-
higher detector background, the requirement for an external supply of regenerant solution and the fact that membrane
2015年09月18日发布人:9妖9
-
,经常会影响此谱线附近的待测元素的谱线。铜对铅见过很多。,不知道用标准加入法能否完善之,如果是PE的,试试msf,可能不 一定能解决,谱线的干扰,MSF与FACT还是有区别的!,是的,瓦里安的Fact与PE 的IEC类似,据说耶拿的谱线分辨率
2016年01月18日发布人:铃儿响叮当
-
Varian 720-es上的点和FACT是什么意思??当我用220.353nm测铅,用点和比FACT测得的强度值高很多。怎么解释??,快速自动曲线拟合。在干扰元素已知的情况下,这个功能可以很好的扣除干扰元素对待测元素的干扰
2010年03月21日发布人:kcuw589
-
熟悉Agilent 的同行都知道,FACT与IEC是其软件特色应用,那么FACT 与IEC的联系与区别有哪些?,Fact要求谱线相距0.4 pm.IEC可以用于谱线完全重叠,这些功能批示都很少用。,相距0.4pm
2016年01月20日发布人:small2011
-
除去基体或者做个基体匹配,铜合金的话,可以采用电解除掉铜后再测试,其他基体还是做基体匹配比较好。,如何操作,求指点?安捷伦ICP-OES720,建议上图...........,pb.cd.sb.As这几个元素测了几年,干扰还不算很大。,那哪几个元素干扰比较大?,您具体什么样品?720的也是有fact模式校正,版友能否分享下您的经验,
2016年04月11日发布人:jom
-
没太搞清楚,期待楼主大作,不需要每次都做,只要在分析模板做好就行了。,影响还是蛮大的。,IEC还是比较麻烦的,前两年听PE的工程师讲,在PE做了几年都不会做IEC,我也是跟着人家做的,还不算很熟练。,不是那么好做的,做一次差不多一天时间就耗上了。,就像做FACT校正一样,换了矩
2015年08月18日发布人:小熊猫
-
测试中碰到的一些干扰问题,您是如何 解决的?,老话题了。基质匹配,MSF都是常用的,干扰是比较难处理的,标准加入法、MSF、FACT,或者选择没有干扰或干扰少的分析线,选择多几个波长,IEC消除等。,虽然是个老话题,实际解决问题还是
2016年03月24日发布人:龙泉
-
increase unity. As a matter of fact, it frequently does. For example, the experimental oscillator strength for the first
2016年03月19日发布人:n111
-
基体拼配,或者有些ICP软件有自带如何消除光谱干扰软件,如PE MSF,安捷伦的FACT校正吗,就是通过仪器分析待测元素,干扰元素的溶液等去分离样品溶液中干扰元素等,铜合金用220应该没有问题啊,做好基体匹配就可以了,我选了283的了,为什么
2015年10月16日发布人:小黄
-
本人新手,最近金属材质干扰比较明显,但是这款新仪器没有做过,请求各位版有是否有比较详细的关于排除干扰FACT编辑方法详细具体过程。,记得论坛里面,有关于瓦里安ICP fact的帖子,你找出来看看,不怎么好弄,基体匹配很重要。我测不锈钢里的磷,铜放入干扰太厉害,老是测出负值。所幸不用了!,这个不一定非要用,可以先建个方法测试一下效果再说。
2016年04月10日发布人:longquan