【[b]讲座简介[/b]】 该讲座重点介绍原子力显微镜各种成像模式的参数设定及其对成像质量的影响,重点讲解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成像。探讨探针、样品、参数设定等对最终
2016年09月06日发布人:颖儿飞飞
布鲁克公司独有的专利PeakForce tapping技术支撑,AFM不仅可以获得二维材料的原子分辨率的图像,也可以同时映射出多维物理属性,包括机械性能(模量、附着力和变形等)和电学性质(表面电位、导电性和压电响应等)。强大的
2016年07月18日发布人:颖儿飞飞
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