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位置仅在最表面,
所以在此诚心向各位高手请教,能采用什么手段仅表征最表面突起结构的物相组成》?
已采用TEM测试过,样品采用离子减薄至穿孔,仅对穿孔周围区域进行了TEM观察,但是感觉测定的位置还不一定是最表面,哪位高手能提供TEM表面制样
2016年01月26日发布人:钻石
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比如复合材料中增强体与基体的界面之间结合程度如何,判定其共格与否?用TEM进行成像操作可看到界面大小,有没有污染、是否有新相生成等,具体的位向关系也可进行选取衍射进行判断。但是比如两者之间共格与否到底该如何测定?,已经找到方法,余永宁教材
2016年02月29日发布人:钻石
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,更好表征。在这里请教高人的指点了。多谢了!,有XRD可以表征的是金属的粒径大小,还有就是晶体的晶包参数等。而eds你如果说用的是TEM带的话也可以测定其晶面间距,如果是用SEM带的EDS的话就可以测量金属的含量,有XRD可以表征的是金属的
2016年01月07日发布人:大大
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TEM和STEM图像在相同的倍率下有什么差别?如何实现在F20 TEM模式下进行EDS分析?,没做过,应该是后者具有立体感才对。
F20做EDS为什么非要在TEM模式下?JEOL的一般在EDS模式下。
TEM模式下的光太强了,容易
2010年06月08日发布人:666
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[size=2][font=Verdana]标签:pe tem 分流 气相色谱 岛津
前辈们好!SPME进样,气相测定MTBE的文献中,有这样一种进样模式。我查了很多资料,猜想大概应该是不完全分流模式吧?文献中讲述的,我不太懂
2014年11月28日发布人:BUK
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[size=2][color=Black][align=center]细胞活性测定方法专题讨论[/align][/color][/size]
[size=2][color=Black]我们在实验过程中很多时候都要用到细胞活性测定
2012年02月13日发布人:蒲公英
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!,哪位高手能把这个处理过程简单的写一个流程呢!谢谢了!,按这个教程可以得到结果。根据我的经验,可能是你的tem照片的模式不对,ij只处理8位的灰度或颜色索引模式图片。,我想TEM照片的模式因该是没有问题的,因为我可以用“手动”的方法来测定颗粒的大小,也可以“自动的统计颗粒尺寸“,现在的问题是得
2015年06月05日发布人:大大
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纳米粒度分析仪:粒度测量范围:3nm-3000nm。适用范围(测试范围):适用于悬浮液体和固体粉末样品的粒度及表面电位测定。
3)高级仪器:SEM,TEM,“Zeta电位及纳米粒度分析仪:粒度测量范围:3nm-3000nm。适用范围(测试范围):适用于悬浮液体和固体粉末样品的粒度及表面电位测定。”
2015年03月21日发布人:malong
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EM与TEM的区别,貌似简单,实际上很少有人能完全讲透彻明白
请重点阐明:1、SEM与TEM所表征的样品属性有何不同,比如同一个材料,用SEM和TEM,所得到的信息究竟有何不同,两者的适用范围如何区分;2、两者在样品制备上有何不同;3
2015年01月31日发布人:坚持2011
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solution (compared to the high-vacuum conditions
required for electron microscopy).,同意,粒度仪测定通常为溶解液,材料在溶剂中出现溶胀;TEM为干燥样,测量的
2015年09月01日发布人:xgy412