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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月26日发布人:yazi
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[hide] [table][tr][td]诊状
[/td][td]可能的原因
[/td][td]解 决 方 法
[/td][/tr][tr][td=1,6]( 一 )
保留时间变化
[/td][td]1. 柱温变化
[/td][td]柱恒温
[/td][/tr][tr
2023年07月07日发布人:zxlyid
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不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2014年08月29日发布人:ass
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[size=14px]制剂技术百科全书》第三版 原版下载
英文的哦,需要的留在案头啊
老规矩,传到纳米盘
这个有点大,发不了邮箱附件
另外这些资料都是新找的,找到一个发一个,暂时无法放到一个帖子里,而且类型也不一样
2015年07月01日发布人:fengyan22
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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月14日发布人:女儿情
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做流动相的,在其他的仪器上可以平稳工作,然而到了伍丰LC-100上就会频繁的导致单向阀失效---引起压力、单向阀堵塞。有的客户不甚其烦,到后来几乎每次都堵。作为一个提供售后服务的公司,我们不能承受产品在设计或加工环节所导致的缺陷。然而,在多次反映故障的情况下,伍
2015年07月20日发布人:天蝎座
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火焰原子吸收法,北京普析AAS-990F仪器,镍总觉测得不准,不知道怎么回事。
我想问一下大家的测定参数是多少,我的是:狭缝0.4,燃气流量2000,空压机分压0.26,乙炔分压0.05
(测Ni的燃气流量仪器默认值是1300,火焰
2011年11月04日发布人:chen389988
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距离有关吧,不知是否准确,看一下说明书, 里面应该有个线形图, 可根据时间和电流来决定膜厚,日立工程师胡扯,大该在3-4nm,电流越大,溅射下来的金颗粒越大,在同样的时间下就越厚。,时间长厚;
电流大,PT的颗粒大;
一般超过5nm你怎么分析啊?,和你的电压电流以及时
2009年10月29日发布人:风大
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,可以使用。
如果是测邻苯,目标物的的最大离子碎片少于350,还是可以做的。[/size],[size=2]可以考虑重装一下看看是不是能好点。[/size],这个丰度比例的调谐结果,对定性分析很有利。对于定量来说,可能高质量数离子会有
2014年12月19日发布人:any333
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最近高效液相purge时压力很高,流速根本不能调到5ml/min. 我把白色滤头取下来,然后purge,压力依然非常高,流速不能超过2ml/min.这样是不是可以排除由于滤头污染引起的压力升高呢???那么,又是因为其他什么原因呢??其实
2011年08月15日发布人:lxycxf