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请教:有没有使用X射线荧光光谱分析纯铝块/锭的方法?
是采用差减法吗?,我想应该要看你的纯铝锭纯度的要求,普通XRF恐怕不能满足要求。如果是纯度比较高的纯铝,要检测纯铝和杂质含量,GDMS(辉光放电质谱)应该可以。,X射线荧光光谱分析纯
2014年11月24日发布人:ay123
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XRD的峰整体向右移动了一点,但是峰还都是那些,怎么回事呢,这个应该没问题题,跟机子有关吧,只要整体移动,就可以确定是你想要的东东,好像机器有漂移,只要位移不大就没什么问题。,可以通过减法把角度调过来,1. 仪器没校准
2. 样品高度有变,要把峰的绝对位置确定出来,可以在样品里加硅粉,然后用硅的特征峰28.443来内标。,是因为样品表面不是水平的
2011年05月25日发布人:No.1
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递减法称取试样时,适合于称取( )。
A、剧毒的物质 B、易吸湿、易氧化、易与空气中CO2反应的物质
C、平行多组分不易吸湿的样品 D、易挥发的物质,B,化验员读本上册P56页,B吧,应该是这个,我选择答案C,我选择B,给加分哈,必然B啊,楼主好像经常出题目给我们做做啊,哈哈~,应该给出相应理由
2015年01月30日发布人:坚持2011
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求教,用超滤膜法测分子量分布过程中,实验的具体操作还有差减法测定的具体步骤,超滤膜法测定分子量一般采用你说的差减法或平行法:首先都需要进行样品预处理,即通过0.45微米的滤膜过滤,收集滤液后:(1)差减法:用不同截留分子量的滤膜如100k
2014年01月11日发布人:teddy
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远红外消除水汽
[为什么远红外应用很少?怎么得到高质量的远红外图谱?
消除水汽一般怎么做呢?差减法可行不?,远红外消除水汽
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2015年05月09日发布人:shuishui
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2015年05月19日发布人:ass
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用分析天平称量约一克的矿样,用称量瓶差减法和用称量纸哪个更精确一些?,我觉得无所谓了,你称的量够多。。一般用差减法更准些,谢了,我倒是觉得用称量瓶就称了两次且操作复杂,而用称量纸就只称一次更能减少误差。,1g这么大量的无所谓了,两个都
2015年03月15日发布人:大嘴猴
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10或20毫升标准碱溶液,然后再用相同的标准碱进行滴定,这样就会使消耗的碱的量提高,同时也使取样量增加。,如果是高纯乙酸,就不要直接测定纯度了,采用合适的方法测定杂质含量,用差减法来计算纯度,多取点样品那样会消耗更多的碱,按照现在的分析方法就需要消耗40毫升
2013年05月13日发布人:be!smile
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求教,用超滤膜法测分子量分布过程中,实验的具体操作还有差减法测定的具体步骤,超滤膜法测定分子量一般采用你说的差减法或平行法:首先都需要进行样品预处理,即通过0.45微米的滤膜过滤,收集滤液后:(1)差减法:用不同截留分子量的滤膜如100k
2013年04月14日发布人:grace!
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滴定的方法。。,请教这位朋友:二氧化硅怎么滴定?用什么物质滴定?指示剂是什么?能否有比较具体的方法介绍一下嘛?,若某个试样中二氧化硅的含量在98%以上,应用氢氟酸挥发重量差减法(即挥散法)来测定SiO2含量。具体测定步骤如下:
将铂坩埚中
2013年05月17日发布人:化小样