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仪器的好坏经常会用一些基本参数衡量,如一下:
m/z范围:10~2,000 amu
分辨率:单位质量分辨,R=2M
扫描速度:最高6,000amu/sec
灵敏度:ESI正离子 利血平 10pg S/N> 500
2009年01月02日发布人:zhufangwei
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我想用基本参数法测量土壤中的重金属含量,不知道靠谱不,有没有哪位大神 这样计算过!其中的难点在哪里?是否需要 测量的土壤元素其含量接近100,用基本参数法才会有效果???,不要沉下去啊,大神呢,基本参数法比较复杂,大部分人都是用理论系数
2015年08月01日发布人:艰苦奋斗
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各位大神,求助求助!
我想用基本参数法测量土壤中的重金属含量,不知道靠谱不,有没有哪位大神 这样计算过!其中的难点在哪里?是否需要 测量的土壤元素其含量接近100,用基本参数法才会有效果???,不要沉下去啊,大神呢,基本参数法
2015年01月30日发布人:nmn
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优点。检测的范围大约从0.01到100微米,根据元素不同会有所差异。,但要注意压片时如果太薄,出来的样片效果可能不好,会影响的到测定结果,对于指定样品镀层成份及厚度的样品,可以在理论上计算样品中各元素的荧光强度(基于基本参数法)。反过来,通过
2014年08月29日发布人:ass
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那个表格输入什么程序?左侧的馏分收集器基本参数怎么设?左侧的level可以设100000uv不?假如第一个峰出峰时间3.00 结束3.44 可以设置成 1:time 3.00 action 初管 value 0 ;2:time 3.44
2014年09月18日发布人:简森si
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本人现在在做X荧光定量分析方面的工作,请教X荧光定量分析中的基本参数法如何实现,你得翻找些分析方面专业书籍了!,因为常用经验系数法,所以对基本参数法也就停留在了解层面上。
基本参数法,是摆脱传统利用标样定量的直接理论计算方法
2015年04月04日发布人:jiankufanhan
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逆计算过程。我们先获得的实测荧光强度,通过反复迭代来计算得到样品各元素含量,这就是基本参数法。
理论荧光强度计算的准确性,是基本参数法准确性的前提。,我认为测量标样和未知样时,二者的测量条件一致就可以。,强度和距离的平方成反比
2015年07月22日发布人:坚持2011
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优点。检测的范围大约从0.01到100微米,根据元素不同会有所差异。,但要注意压片时如果太薄,出来的样片效果可能不好,会影响的到测定结果,对于指定样品镀层成份及厚度的样品,可以在理论上计算样品中各元素的荧光强度(基于基本参数法)。反过来,通过
2015年02月01日发布人:vbnm
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请求高人帮我解答下这两个方法的区别以及特点啊~!~
我自己也网上找了找,都不太好理解,这方面资料也很少,求大虾出现了!
万分感谢!!!!,FP基本参数法应该是帕纳科的吧?你没问下厂家?,我是新人啊 不晓得哦 求高手出现,基本参数
2014年12月22日发布人:small2011
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用溶片的原因是不是硅容易在溶片中污染?,你认为不能用溶片的原因是什么呢。,这类样品的Si含量大概是?,快来专业工程师解决下,不可以用铂金坩埚熔样吗,他说不能用溶片法,不知道什么原因?,不能熔片的原因是会严重腐蚀坩埚,里面有还原性物质?,氮化硅就是还原性物质,用基本参数法可以吗?要是用熔片法是不是要先将氮化硅氧化呀!,那是必须的,除非不想要锅了
2016年02月25日发布人:jom