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色谱峰是什么样的呢?根据塔板理论,应该是正态分布曲线。但理论是理论,现实很悲剧,真实的色谱峰形很少是正态分布的,而是各种形状。幸好,我们并不关心峰型,只要面积好就ok了。等等,这里有一个问题,就是峰宽。峰形状变了,峰宽加大了,经常造成分离度
2016年03月30日发布人:1472583690
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[size=2]看到好多文献中用到谱峰的半高宽,但不知道这半高宽其中有什么内涵?能提供什么信息?还请高手赐教![/size],[size=2]半高宽嘛从字面意思你也应该可以理解啊就是某一个峰强度的一半所对应的两个横坐标的数值的差即宽度
2014年12月20日发布人:vvmmoy
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!!!,一般算平均,2:为什么算某一个晶面晶粒大小时不要扣除仪器宽画曲线呢?
谁说不要?,3:做仪器宽画曲线采用的样品怎么做啊?我这没有这个材料,怎么办呢?
用NIST SRM 660b 或者640 做仪器峰宽. 买不起也可以自己做退火Si粉代替...,一般是以某一个面为计算。。。。。。。。,打电镜行不,平均的哦
要扣除
2011年06月24日发布人:ice
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测得的(111)峰的角度和半峰宽都稍有不同。可能是存在测量误差或者是碳对Si的影响吧。,从23度至29度扫描硅粉,硅粉111面的角度是28.401,之后把这个硅粉和石墨粉稍微混合了几下,继续23度至29度扫描,硅粉的111面的角度就变成
2011年09月30日发布人:657370115
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我做的测试中发现掺杂后衍射峰偏移,主要是由于晶格畸变引起。在另一个测试中发现衍射峰变宽,已经排除是晶粒细化引起的,也是由于晶格畸变引起的。
这就出现了问题,同样是晶格畸变,为什么一个引起衍射峰偏移,另一个却引起宽化。
另外,宽
2015年04月29日发布人:adg
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我做的测试中发现掺杂后衍射峰偏移,主要是由于晶格畸变引起。在另一个测试中发现衍射峰变宽,已经排除是晶粒细化引起的,也是由于晶格畸变引起的。
这就出现了问题,同样是晶格畸变,为什么一个引起衍射峰偏移,另一个却引起宽化。,这个问题往往会困扰
2010年12月06日发布人:学者
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[size=2]看到好多文献中用到谱峰的半高宽,但不知道这半高宽其中有什么内涵?能提供什么信息?还请高手赐教![/size],[size=2]半高宽嘛从字面意思你也应该可以理解啊就是某一个峰强度的一半所对应的两个横坐标的数值的差即宽度
2014年11月11日发布人:bohe221
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[size=2][color=Black][b][求助]Agilent1260工作站中关于峰宽的设置
1.手动积分,椭圆内两峰积分如下:
峰面积 - 峰高 - 峰宽
89.9 - 5.8 - 0.2576
82.7
2011年11月10日发布人:粉色萤火虫
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我最近遇到了这么蹊跷的问题,直压工艺,直接原辅料混合后,用塑料袋混合,测混粉的含量大约92%左右;混粉到机台压片,测片子含量93%左右;但是测机台上余粉含量大约106%。觉得很奇怪。塑料袋上吸附的测了下,大约只有0.3%。 不知道
2014年04月15日发布人:大学习
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我做的测试中发现掺杂后衍射峰偏移,主要是由于晶格畸变引起。在另一个测试中发现衍射峰变宽,已经排除是晶粒细化引起的,也是由于晶格畸变引起的。
这就出现了问题,同样是晶格畸变,为什么一个引起衍射峰偏移,另一个却引起宽化。
另外,宽
2015年04月09日发布人:adg