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?,干涉。 正焦相当于你在样品下表面看,如果是相物体,没有什么振幅信息。你defocus一下相当于离开样品一段距离看。样品两个位置的出射波在真空中又传播了一段距离相遇了,就可以干涉了。一干涉由于位相差电子强度出现变化衬度就出来了。,建议看高分
2015年11月22日发布人:小黄
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断裂,买了好几年了,也不知道发挥作用如何。
如果对理论感兴趣,可以咨询北大力学系,他们做SEM微观断裂,微应力应变测试系统,放大倍率:阴极射管电子束在荧光屏上的扫描振幅与入射电子束在样品表面扫描振幅的比值。,分辨率:分为图像分辨率和能谱或
2015年08月24日发布人:xiaoxiaojinglin
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我的薄膜基底是单晶硅的,膜层是GeSbTe,之前在普通的xrd上做出来的
想问一下大家做薄膜试样掠射角一般是如何确定的呢?
谢谢!,有说掠射角是越小越好,掠射角和膜层成分还有厚度有关,根据具体样品优化掠射角应当是实验者的事啊。,掠角的
2010年11月20日发布人:boss
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ICP710的锰发射强度越来越低;厂家工程师说正常时候应该有60万,2012年测5PPM锰时是30万,现在只有23万了。换了新的雾化器后,反而比旧的雾化器的锰发射强度还低。查所有条件,均未改变。最近大功率寿命到了,更换以后情况依旧,请各位给提供下思路?,别的元素强度是否有改变,光路上的透镜需要清洁了
2014年09月17日发布人:a456
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最近想学习学习高分辨分析中的波函数重构方法,有一些问题想请教各位:
看到李方华老师著作中有写到“出射波重构途径有两个:一个是借助电子全息术,从一幅全息图出发;二是从若干幅不同离焦量的显微像出发”,
1.请问一下这两种方法的比较和优缺点
2015年08月04日发布人:tomm
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请问X- 射单晶末衍射仪对样品的要求?能测多晶吗?,不能,送检样品必须为单晶。,多晶没有信号吗?,用单晶衍射仪多晶信号太复杂,一般测出来也解不出结构。,选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。不附着小晶体,没有缺损重叠、解理
2010年11月07日发布人:学者
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行業經常有人提到X射對身體的危害和影響,儀器使用時間長,輻射在所難免。特別是那些七十年代生產的儀器現在都還有在使用者。請問哪位大俠的儀器有對射線強度進行檢測過,檢測後管控的標准是多少為合格?
有哪些單位有檢測輻射強度的能力?,没关注过
2015年10月02日发布人:小牛牛
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我的仪器是岛津LCMS2010, 最近UV检测器基线噪声振幅达到7mv是由什么原因引起?请专家指点,谢谢!,静电,岛津的仪器静电比较高。,不是氘灯寿命到了,就是流动相不干净还在低波数检测,要不就是系统污染,先楼上说的排查原因,还有仪器有没有接地,附近有没有大功率的电磁干扰?
2010年05月16日发布人:考研吧
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靶材发散角度是48°,那么靶材的出射角是48°呢还是24°呢?,请教下你 出射角和发射角有啥区别的啊 还有就是你的仪器是一般能谱还是二次靶的啊,要用个出射角计算个数,不知道是选48°还是24°。,入射角和出射角是相等的,不同的角度对应不同的元素,这个无所谓了,反正X射线是球状发射的,但要注意的是如何减小没用的光线
2015年06月21日发布人:小牛牛
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?,干涉。 正焦相当于你在样品下表面看,如果是相物体,没有什么振幅信息。你defocus一下相当于离开样品一段距离看。样品两个位置的出射波在真空中又传播了一段距离相遇了,就可以干涉了。一干涉由于位相差电子强度出现变化衬度就出来了。,建议看高分辨的书,一看就明白了~不只是正负焦,还有样品厚度等,对拍出来效果影响很大的
2015年09月07日发布人:nsdm