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进行单狭缝衍射的时候最终落在荧幕上的还是一个点,可是为什么换成两个狭缝,一个电子会产生干涉条纹?不知道各位大侠有没有好的解释?欢迎交流,~~~~沙发~~~~ 哎呀呀呀,神呐! 建议楼主好好看书吧!
最简单的解释请参考费曼物理学讲义第三卷的
2015年12月19日发布人:小熊妮妮
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稍微打磨一下,产生粗糙的表面也可以消除干涉现象。,如果溴化钾片压得以透明又平整,两个侧面非常平行,则会在400cm-1的低频端出现干涉条纹,为什么楼主的谱图会在大部分的波数内都出现干涉条纹呢?,太感谢两位了,看来是我一直对红外有些认识上的
2010年12月24日发布人:xiaoyu_snow
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多,就不知道你什么样品,如果硅片行业我知道有很多用红外来测试的,可以查看具体国标《GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法》
希望对你有用!,好像是利用干涉条纹来测定的,只是听说过一次,不记得
2011年01月03日发布人:chun-e-fu
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。,这种说法不够直观把,如果从光路的角度来看,透射斑点与基体衍射斑点干涉获得基体晶格像,透射斑点与析出相衍射斑点干涉获得析出相晶格像,那么莫尔条纹是透射斑点与二次衍射斑点干涉获得的条纹还是透射斑点与二次衍射斑点、基体衍射斑点以及析出相衍射斑点干涉
2014年09月12日发布人:小黄
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[size=2][font=黑体]《中国药品检验标准操作规范》2010年版:
压片法制成的片厚在0.5mm左右时,常可在光谱上观察到干涉条纹,对供试品光谱产生干扰。一般可将片厚调节至0.5mm以下即可减弱或避免。也可用金相砂纸将片稍微打
2015年04月14日发布人:@花开花落@
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。,这种说法不够直观把,如果从光路的角度来看,透射斑点与基体衍射斑点干涉获得基体晶格像,透射斑点与析出相衍射斑点干涉获得析出相晶格像,那么莫尔条纹是透射斑点与二次衍射斑点干涉获得的条纹还是透射斑点与二次衍射斑点、基体衍射斑点以及析出相衍射斑点干涉
2015年10月22日发布人:small2011
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不是很强,建议想法把峰强度做大,可能信噪比会好一些。,可能是吸水吧(片是不是不太透明?),峰强度不是很大,导致信噪比低。,应该不是水造成的,因为在低波数区域也有毛刺,你可以把样品的量再加的多一点,这样信号强,相对的毛刺看上去也就小一点了。毛刺的原因多数是因为压片太薄造成的干涉条纹。,谢谢各位的指教,看来压一个好的片子还真难呀。,做这红钱
2011年01月13日发布人:hawel
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红外光斑照射到,即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差,可能就能消除干涉条纹;
(2)尝试一下改变分辨率,我个人认为应该降低分辨率,如果你现在用的1cm-1的分辨率,那么可以试试2cm-1,4cm-1;
(3)不要让样品和光路垂直,即
2016年03月03日发布人:p1900
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=2]该图2个问题:1.太厚,有平头峰。2.有干涉条纹。建议把样品厚度减小。[/size],[size=2]仪器参数可在设置界面里直接改变的。[/size],[size=2]缩小光阑效果不理想,最主要的原因还是样品太厚,需要切薄片。这个我还不会。以后尝试用用那个切片机。还一次都没有用过哦。[/size],[size=2
2015年04月14日发布人:seagate
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样品本来就是薄膜材料,老板问我减薄后的厚度。,利用样品边缘的等厚干涉条纹、CBED和EELS都可以测量样品的厚度,等厚干涉条纹方法一般的透射电镜方面的书都会介绍,CBED方法可以参考《高空间分辨分析电子显微学》和《透射电子显微学进展
2015年05月07日发布人:ay123