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对于薄片晶体来说, 最大面积外露晶面是xrd图谱中最强峰或是择优取向峰所对应的晶面吗?,薄片晶体即使磨成粉末也是容易形成择优取向的,一般用NBS制样方法处理,你的问题是不确定的,有些固定峰本来就很强,即使有择优取向也可能没有他强
2011年07月25日发布人:江鸟
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,2009,131,9405-9412.作者通过XRD判断了ZnO晶面的择优生长。原文如下:
We have found that the relative intensity ratios of the (100)/(002
2015年06月30日发布人:艰苦奋斗
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本人前端时间对羟基磷灰石粉体做TEM来分析样品是否有择优取向,但高分辨图显示晶格并没有很明显的定向排列趋势,而是呈杂乱无章的状态,对应的电子衍射图谱中发现物质是单晶,且衍射点并不对称。这是什么问题造成的呢?
高分辨图可以说样品是没有
2015年09月02日发布人:QQ爱
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压力变化缓慢而平稳。要使泵具备良好的操作性能,应该保持泵系统的洁净。具体做法如下:[/size]
[size=3] (1)要选择优质的溶剂和试剂,在进入仪器前用0.45um膜过滤,并进行脱气处理。[/size]
[size=3
2023年07月07日发布人:HEC_css
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?,[attach]7935[/attach],峰位没变说明没有相变,峰高变化一般说明产生了织构,是不是也有取向的变化呢?,我认为时产生了择优取向,呵呵!而且随着球磨时间的延长,择优取向还越来越明显,所以衍射峰宽度也变窄。。。,球磨过
2011年07月25日发布人:english
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如何从XRD衍射峰强度比判断晶体择优取向,有相关的参考文献吗?,广角衍射全谱(最大衍射范围)的峰强比,用于计算极密度,根据极密度大小判断择优取向,这主要用于丝织构测量。,也有人用于计算板织构。,参考中南大学 李树棠 老师的《晶体X射线衍射学》,有基本原理和测量方法。,计算板织构的论文可参考 中南大学 材料学院 杨进硕士,彭勇宜博士 论文或他们发表的论文。
2011年08月24日发布人:古灵
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请赐教,如何从XRD衍射峰强度比判断晶体择优取向,有相关的参考文献吗?,我曾见过相关英文文献,选定两个晶面,测试不同条件制备的晶体XRD衍射峰的强度比,确定择优取向即可。,在GOOGLE学术里面输入"Lotgering method"。,通过与粉末衍射卡上的标准衍射峰的峰强比进行比对,可以看出哪个衍射峰对应的晶面有择优取向。
2011年07月25日发布人:ice
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?做薄膜研究既可以通过反射也可以通过掠射。反射主要适合300-400 nm厚以下多层膜及薄膜,可测膜的厚度、膜及衬底的密度、表面及界面粗糙度、膜的次序,对样品定位及入射光束的准直要求较高;掠射可测多层膜及薄膜的物相分析、晶粒大小测定、薄膜次序及择优取向测定。,我想测的是薄膜的物相和择优取向。小角衍射和掠入射衍射
2011年05月25日发布人:bin
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本人新手,在对有掺杂的样品结构精修精修时,到了chi2到了4就修不下去了,我已经把自己会修的都修了,还是不行,折腾很多天了,由于新手还看不了精华的帖子~希望能有人帮助一下,这是我的精修部分结果~非常感谢!,你这用和谐函数精修择优取向,又用
2015年03月02日发布人:happydream
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各位大侠帮忙解答:
1. 我看文献上有的说xrd掠入射看薄膜物象鉴定,常规的θ/2θ扫瞄看薄膜的择优取向。薄膜xrd掠入射能看薄膜的择优取向吗?
2. 我做常规的θ/2θ扫瞄时只有衬底峰没有薄膜信息,所以只能
2015年07月02日发布人:shuishui