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我的薄膜基底是单晶硅的,膜层是GeSbTe,之前在普通的xrd上做出来的
想问一下大家做薄膜试样掠射角一般是如何确定的呢?
谢谢!,有说掠射角是越小越好,掠射角和膜层成分还有厚度有关,根据具体样品优化掠射角应当是实验者的事啊。,掠角的
2010年11月20日发布人:boss
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?做薄膜研究既可以通过反射也可以通过掠射。反射主要适合300-400 nm厚以下多层膜及薄膜,可测膜的厚度、膜及衬底的密度、表面及界面粗糙度、膜的次序,对样品定位及入射光束的准直要求较高;掠射可测多层膜及薄膜的物相分析、晶粒大小测定、薄膜次序及择优取向测定。,我想测的是薄膜的物相和择优取向。小角衍射和掠入射衍射
2011年05月25日发布人:bin
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用双面胶把膜粘在样品槽的中心,尽量保持膜和样品槽的表面在同一个平面。测量结果发现虽然特征峰的位置虽然和文献报道的一致。但是相应值只有400-500。不知道应该怎么样制备样品才算科学。像高人请教。,400-500说的是强度吗?你用的是掠射
2016年04月10日发布人:shuishui
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ICP710的锰发射强度越来越低;厂家工程师说正常时候应该有60万,2012年测5PPM锰时是30万,现在只有23万了。换了新的雾化器后,反而比旧的雾化器的锰发射强度还低。查所有条件,均未改变。最近大功率寿命到了,更换以后情况依旧,请各位给提供下思路?,别的元素强度是否有改变,光路上的透镜需要清洁了
2014年09月17日发布人:a456
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最近想学习学习高分辨分析中的波函数重构方法,有一些问题想请教各位:
看到李方华老师著作中有写到“出射波重构途径有两个:一个是借助电子全息术,从一幅全息图出发;二是从若干幅不同离焦量的显微像出发”,
1.请问一下这两种方法的比较和优缺点
2015年08月04日发布人:tomm
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我们有布鲁克公司的FTIR 使用的是PIKE的 80度掠角全反射附件,配了一个ZnSe得偏振片,用于测单分子膜。但是我不知道应该使用多少角度的偏振(0-180度),也没查到相关的说明,不知哪位朋友使用过这个附件或有相关资料,请指教
2010年06月02日发布人:生活eesf
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请问X- 射单晶末衍射仪对样品的要求?能测多晶吗?,不能,送检样品必须为单晶。,多晶没有信号吗?,用单晶衍射仪多晶信号太复杂,一般测出来也解不出结构。,选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。不附着小晶体,没有缺损重叠、解理
2010年11月07日发布人:学者
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行業經常有人提到X射對身體的危害和影響,儀器使用時間長,輻射在所難免。特別是那些七十年代生產的儀器現在都還有在使用者。請問哪位大俠的儀器有對射線強度進行檢測過,檢測後管控的標准是多少為合格?
有哪些單位有檢測輻射強度的能力?,没关注过
2015年10月02日发布人:小牛牛
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靶材发散角度是48°,那么靶材的出射角是48°呢还是24°呢?,请教下你 出射角和发射角有啥区别的啊 还有就是你的仪器是一般能谱还是二次靶的啊,要用个出射角计算个数,不知道是选48°还是24°。,入射角和出射角是相等的,不同的角度对应不同的元素,这个无所谓了,反正X射线是球状发射的,但要注意的是如何减小没用的光线
2015年06月21日发布人:小牛牛
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请问各位高手,在使用尼高力的80度角掠角反射附件时,用DTGS检测器是否可行?是否应该用MCT检测器?谢谢各位!,楼主的问题我不是很明白,这个不属于近红外吧。,[url]http://engine.cqvip.com/content/o
2015年05月10日发布人:nmn