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提供几个细胞原大家参考,还望大家也能提供更多信息
1。 人正常细胞产品及其培养系统
生产商 Cascade Biologics,Inc.
性能介绍 Cascade生物制剂公司是致力于开发和生产正常人细胞及其培养液的高科技企业
2012年07月02日发布人:一叶
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[size=14px]安捷伦的离子源清洗及维护知识视频,帮助我们看得更清楚离子源的结构和更具体的了解离子源的维护细节。觉得好就给个好评哦!
[hide][/size][size=14px]下载地址:
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2023年11月15日发布人:chongwenmen
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抗污染、一个是传输效率。
所以,离子源的设计应该不只考虑喷针,还要考虑传输路径,要让离子化的东西,尽可能传到后面的质量分析器去。,最早Analytica公司:
(1)一个典型的三层套管式离子源,中间是液体,外层(鞘层)是辅助液体,最外层是辅助气体
(2)当时认为:喷针冲着采样锥孔(吸极
2013年12月13日发布人:firefox
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[size=2]EI(lectron impact)电子轰击式离子源是GC-MS中常用的一种离子化方式,它由加速电场,推斥极和灯丝组成。
灯丝一般是钨丝,在被电流加热到1000K的时候会电子获得能量挣脱束缚从表面逃逸出来,提供
2015年05月12日发布人:红豆冰
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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月26日发布人:yazi
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[size=3][color=#c00000] EI(lectron impact)电子轰击式离子源是GC-MS中常用的一种离子化方式,它由加速电场,推斥极和灯丝组成。[/color][/size]
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2010年02月09日发布人:maomi530
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请问各位,知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗,测C-F曲线,转化为介电常数,测电容,再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单,用探针台接上你的样品上下电极,再将探针台连在阻抗分析仪上,扫频即可
计算的前提是你得知道电极
2015年08月14日发布人:女儿情
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不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2014年08月29日发布人:ass
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距离有关吧,不知是否准确,看一下说明书, 里面应该有个线形图, 可根据时间和电流来决定膜厚,日立工程师胡扯,大该在3-4nm,电流越大,溅射下来的金颗粒越大,在同样的时间下就越厚。,时间长厚;
电流大,PT的颗粒大;
一般超过5nm你怎么分析啊?,和你的电压电流以及时
2009年10月29日发布人:风大
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异源蛋白的表达是个很复杂的问题,有许许多多的影响因素,而且由于蛋白本身千差万别,很难有一个很完善或很标准的流程方法。
另外,表达的宿主也是多种多样,目前比较常用的包括E.coli,酵母
2014年09月30日发布人:bamboo16