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没做过此材料,个人观点,拙见。,用背散电子试试,你的样品上的锡是镀上去的膜吗?
我没有虽然没有接触过锡膜,但我们是做无机涂层膜的,也经常要看膜的显微结构来研究其生长情况。
有两种情况,表面物质的显微形貌如果是晶须状的话,直接用SEM
2009年11月13日发布人:物联网
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说说你所知道的样品测试仪器和功能,x射线衍射仪(XRD):测晶体结构,扫描电子显微镜(SEM):形貌观察,原子力显微镜(AFM):探测物体表面的信息,特别是适合生物样品,如细胞等,AFM对我来说最大的用处是:(1)表征剥离的单层;(2)测薄膜表面覆盖度及重叠度,TEM:透射电镜;观察形貌。高分辨可看晶格条纹。
氮气吸附:比表面积、孔径、孔容。
2011年05月25日发布人:lucky
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用扫描电子显微镜进行形貌分析有哪些特点,放大倍率大。。高达几十万倍。。
分辨率高。。几个nm
景深大
成本高
样品可能需要前处理
操作较复杂,和光学显微镜及透射电镜相比,扫描电镜SEM(Scanning Electron
2015年06月23日发布人:jishiben
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原子力显微镜能看到颗粒的大小吗,回答的好可多送BB啊,SEM和STM可以测,原子力显微镜就不知道了。,你好,我们老师跟我们说过原子力显微镜可以看到细胞的微观结构,至于形貌我想应该没有问题!,当然没有问题 颗粒多小都能看到 取决于原子
2016年04月21日发布人:无怨无悔
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激光照射悬臂的尖端,四象限探测器就可检测出悬臂的偏转。
通过电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维
2015年08月31日发布人:hcy517
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我的样品是个2-3毫米厚的片子,想观察其表面形貌,用显微镜照的时候低倍数还能看到,不过不清楚,用高倍又因为透光不好而看不到表面,没用过扫描电镜,不知道可不可以,还有不知道有没有别的方法去表征呢,用AFM试试看啦,可以在硅片上或者云母片上涂
2016年01月26日发布人:女儿情
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电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大
2015年02月03日发布人:zouyou
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照射悬臂的尖端,四象限探测器就可检测出悬臂的偏转。
通过电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维
2015年12月28日发布人:yayayu
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电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大
2015年11月28日发布人:n111
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电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大
2016年02月27日发布人:n111