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辉光放电只是在样品的表面进行轰击检测,只检测样品的表面部分,而ICP则是要溶样进行检测,是否就表明ICP-MS对整个样品的检测结果会准确一点?
除去前处理的差别,在灵敏度和稳定性上,两个仪器哪会比较好一些,就测常规的金属元素和P、B来说
2015年01月03日发布人:艰苦奋斗
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想用XRD检测物相,因为以前从来没有碰过XRD,所以不知道块状的样品制备都需要注意什么。我做的是铝基陶瓷复合材料,不知道对制样有没有什么特殊要求,例如样品厚度,表面,尺寸什么的。
我这里的XRD机型是:BRUKER AXS
2016年04月10日发布人:adg
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辉光放电只是在样品的表面进行轰击检测,只检测样品的表面部分,而ICP则是要溶样进行检测,是否就表明ICP-MS对整个样品的检测结果会准确一点?
除去前处理的差别,在灵敏度和稳定性上,两个仪器哪会比较好一些,就测常规的金属元素和P、B来说
2014年09月14日发布人:jiankufanhan
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范围,我们用的是耐驰的,5-15毫克。,2-10mg 一般就是3 4mg 左右,3-10mg,一般是坩埚的1/3体积就好,耐驰TG209 6-10mg,BET测试 需要多少样品用量?谢谢了,样品量跟样品表面积有关,
我用的自己定的土标准
2015年11月02日发布人:yuanyuan
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如题,
BET测试 需要多少样品用量?谢谢了,样品量跟样品表面积有关,
我用的自己定的土标准是总面积大于5m2
比如样品比表面积100m2/g,最少用0.05g,还要考虑天平的准确度,因此,如果是测比表面积,最好用0.1g以上
2015年07月10日发布人:青青草
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我这里有一个单晶硅样品台,可以对少量样品做分析,但是操作中碰到一个麻烦,就是怎么样保证样品表面的平整那,用玻璃压很容易把样品都吸附到玻璃上,不压又觉得表面恨不平整。请问大家有什么好办法么?,粉末样品如果很微小,很容易被光滑的玻璃表面所吸附
2010年11月07日发布人:nini
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扫描电镜适合测定什么样的样品啊?测毛细管成吗?谢谢,看的是样品表面形态,大小只要能放到机器里面就行。
个人观点,以我的经验,扫描在SE模式下,要是样品自身导电性,电镜状态都良好的情况下,观察不清楚,也可能是样品腐刻的问题,组织出来的
2015年01月17日发布人:不化妆的lay
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想用XRD检测物相,因为以前从来没有碰过XRD,所以不知道块状的样品制备都需要注意什么。我做的是铝基陶瓷复合材料,不知道对制样有没有什么特殊要求,例如样品厚度,表面,尺寸什么的。
我这里的XRD机型是:BRUKER AXS
2016年03月05日发布人:teddy
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扫描电镜适合测定什么样的样品啊?测毛细管成吗?:):),看的是样品表面形态,大小只要能放到机器里面就行。,样品需是导电的才行,绝缘样品需要经过处理才能观测到表面形貌。,看的是样品表面形态,不导电的需要喷金处理,然后观测!!!,毛细管需要喷
2015年10月31日发布人:大大
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各位老师请赐教:一直有个问题不清楚:扫描电镜到底能看到样品多深?镀金厚度一般是多少?
书上是这样说:扫描电子像就是二次电子像,二次电子的发射深度为样品表面几纳米到几十纳米的区域;而镀金厚度又说是要10纳米左右,真不知正常看扫描电镜的镀金
2015年06月03日发布人:p1900