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,但大多数应该没有您的专业背景,例如我。环境扫描电镜也很容易理解,况且你的照片也不是在环境模式下做的,使用ETD(也就是E-T型二次电子探测器)在高真空普通模式下照的。您光给出了降解过的照片,是不是给一张没降解过的照片,还有微生物的照
2015年07月29日发布人:青青草
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试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的 显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。,二、扫描电镜具有以下的特点
(1) 可以观察直径为0 ~ 30mm的大块试样(在
2009年10月27日发布人:番茄
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各位老师:
常规用于能谱分析的Si-PIN或SDD探测器的原始输出信号都是几百毫秒的锯齿波,我想了解一下,这种锯齿波是怎样产生的啊?
另外有没有讲这类探测器原理的参考资料啊?谢谢,x射线激发样品 轰击内层电子
2014年11月28日发布人:艰苦奋斗
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一些样品表面氧化或腐蚀后导电性不好,在LV下看更好一点。,的确是这样,NOVA200 Nano是不允许用磁性材料的电子陷阱的,您可以打开仓门看,上面的准直器和一般的是不一样的,是一种长长的很尖的准直器,里面没有磁体材料,由于没有了电子陷阱,在正常模式下,电子会进入探测器,形成很高的噪音,死时间很大
2015年02月05日发布人:yazi
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各位老师:
常规用于能谱分析的Si-PIN或SDD探测器的原始输出信号都是几百毫秒的锯齿波,我想了解一下,这种锯齿波是怎样产生的啊?
另外有没有讲这类探测器原理的参考资料啊?谢谢,x射线激发样品 轰击内层电子
2014年08月22日发布人:坚持2011
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常规用于能谱分析的Si-PIN或SDD探测器的原始输出信号都是几百毫秒的锯齿波,我想了解一下,这种锯齿波是怎样产生的啊?,x射线激发样品 轰击内层电子 产生电子逃逸 存在能量差 产生特征谱线 就会出现x荧光 被探测器所接收 具体可以查阅
2014年08月29日发布人:风往尘香
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串口传入电子控制单元,在电子控制单元进行红外图形处理,识别出人体。
应用场景是用在汽车上,来探测哪个位置有人,来进行分区调节温度。
电子控制单元现在已经调试好了,接口也都通了,但在红外探测器选型上没经验。
所以请教
2014年09月09日发布人:jiushikeshui371
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因素诸如工作距离,束斑尺寸,色散等等等等,你这2个小时中间有没关闭灯丝,假如没有的话,灯丝长时间处于工作状态肯定有所消耗,另外2个小时的时差电子束稳定性会受到影响,电子束不稳定,激发出的二次电子或背散射电子强度不同,探测器接收的强度也会变化。,你肯定你的所有数值都一样吗?比如工作距离,像散,束斑等。
2009年10月26日发布人:888
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对于高功率的荧光仪,突然断电对荧光仪有木有损害?,损害当然有,比如对光管、高压发生器,探测器、以及电子电路等等,激光管和高压发生器容易损坏,这样的事情国内也发生不少了。,我司高压发生器损坏过,这种现象不可常有,,否则就要花银子啦,最可怕的
2015年10月01日发布人:jkh123
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句话?,这个问题是这样的,简单的说:每kev的能量在闪烁、流气和Si探测器上产生的光子数或者电子对是不一样的,闪烁最少,流气次之,Si探测器最多,谁产生得多,谁的分辨率就越好。,非常感谢。
同样的光子能量,所产生的脉冲半峰宽小,这该
2015年10月09日发布人:shuishui