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温度降低;
第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
[b]2、电离干扰的消除和抑制[/b]
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而
2018年09月06日发布人:Shine
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;[/size]
[size=3] 频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;[/size]
[size=3] 第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度
2015年06月24日发布人:kflsjjfdl
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[size=2]标签:氢气发生器 空气发生器 东西电子
请问,第一次做农残,电子捕获,需要开空气发生器和氢气发生器吗?还是只开柱温,汽化和电捕的温度就行,东西电子GC4000A的机器[/size],[size=2]不需要氢气
2014年08月12日发布人:lagua123
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)流速1.8 mL/min;
进样口温度250℃,分流进样,分流比20:1; 进样量:1μl。
检测器:FID, 氢气:30ml/min, 空气:350ml/min, 尾吹:N2,30ml/min, 温度:270℃。
1.3.2质谱条件:
电子轰击(EI)离子源;电子能量70eV;传输线温度2
2015年03月28日发布人:石头鸟
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有谁知道电子天平跟电子温度计的校正频率问题,是不是精度有关系呢,有没有相关的标准呢,天平 这东西 一般要计量局校正
他们搞这东西 在行,电子天平和电子温度计是敏感易损仪器,应由技术监督局计量所每年两次校验。,应该严格每年对天平
2014年11月01日发布人:大嘴猴
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最近在看hirsch的薄晶电子显微学,看到设备这章,改变了我对污染的一些错误看法,在此和大家分享讨论一下一直以来,我主观的认为污染是由于样品局部温度升高,导致在电子束轰击的地方造成碳的沉积而形成碳污染,电子轰击造成样品温度越高,则越加
2016年01月09日发布人:ay123
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最近在看hirsch的薄晶电子显微学,看到设备这章,改变了我对污染的一些错误看法,在此和大家分享讨论一下
一直以来,我主观的认为污染是由于样品局部温度升高,导致在电子束轰击的地方造成碳的沉积而形成碳污染,电子轰击造成样品温度越高,则
2014年12月05日发布人:龙泉
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第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。
[b]2、电离干扰的消除和抑制[/b]
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号
2011年03月25日发布人:liuyaxiong
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这个是工业测量,一般的露点肯定是不行的,建议使用维萨拉DMT340,可以支持-70度露点测量,我们在工程上曾经用这个测压缩空气的露点。,否定,反对楼上的说法!
温度是否对露点测量有影响(不是指电子元件的温度补偿),取决于露点的测量原理
2017年11月18日发布人:差不多先生
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双温度计调校方法(适应于指针式温湿度表) 如何调节校正温度?,.如何调校温度表
采用另一精密准确之温度计/表做参照(与可参照的器具摆放一起30分钟以上),如冰箱内设定的温度、空调设定的温度,水银温度计,电子温度计等,用合适的
2015年02月08日发布人:danzi