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离子淌度分离与质谱联用的一种新型二维质谱分析技术,离子淌度分离原理是基于离子在飘移管中与缓冲气体碰撞时的碰撞截面不同,离子可按大小和形状进行分离。经过30多年的发展,离子淌度质谱已配有多种最新的离子源及质量分析器,理论研究也日渐成熟,并在蛋白质、多肽及复杂化合物异构体分析方面越发显示出独特的优势,正在发展成为一种新型的重要分析工具。[/
2015年11月18日发布人:zhihui小新
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作者:王海龙,魏开华 来源:军事医学科学院院刊
[b][摘要][/b] 离子淌度质谱是离子淌度分离与质谱联用的一种新型二维质谱分析技术,离子淌度分离原理是基于离子在飘移管中与缓冲气体碰撞时的碰撞截面不同,离子可按大小和形状进行分离
2007年07月18日发布人:mass
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碰撞截面不同,离子可按大小和形状进行分离。经过30多年的发展,离子淌度质谱已配有多种最新的离子源及质量分析器,理论研究也日渐成熟,并在蛋白质、多肽及复杂化合物异构体分析方面越发显示出独特的优势,正在发展成为一种新型的重要分析工具
2010年09月29日发布人:hewen0925
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应该这样讲:用动能歧视(KED)原理研究出了碰撞池技术(CCT),再学习一下,谢谢。,CCT是热电的叫法吧,其本质其实是CID,也就是碰撞诱导解离,KED模式就是利用在碰撞的过程中,截面较大的损失的动能更多---这样一个假设或者说工作原理来
2015年01月27日发布人:vbnm
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实验中用扫描电镜看薄膜截面时,玻璃基底不知怎的老是发亮光,而且聚焦时由于发生漂移而无法成功聚焦得到清晰的薄膜断面图像,而看到文献中报道的的薄膜器件截面图都很清晰,请问该问题是什么原因造成的?操作电镜或样品制备过程中如何避免呢?谢谢,发亮
2015年09月24日发布人:8899
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以前做过基底是氧化锆的涂层的截面样品,现在做的样品基底是Al,因为金属Al非常软,延展性很好,抛光磨的过程中发现两个对粘的表面容易乌到一块,两个表面中间的gap也越来越大。不知道在座没有人做过比较软的金属的TEM截面样品,帮忙提出一点建议
2016年02月09日发布人:nsdm
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以前做过基底是氧化锆的涂层的截面样品,现在做的样品基底是Al,因为金属Al非常软,延展性很好,抛光磨的过程中发现两个对粘的表面容易乌到一块,两个表面中间的gap也越来越大。不知道在座没有人做过比较软的金属的TEM截面样品,帮忙提出一点建议
2014年12月07日发布人:夜蓝星
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各位,想请教下,如果ICP-MS的碰撞池比较脏,除了长时间吹扫,还有没有别的更快捷的方法?谢谢!,拆下来洗呗,拆下来洗呗,拆下来洗呗,脏了,就只能清洗了,哪有快捷的方法啊,脏还是应该有个判断标准的,怎么判断呢?,碰撞池脏了可以清洗,但要
2015年11月09日发布人:vbnm
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[b][size=4]5 碰撞反应池[/size][/b]
可能各家厂商的产品都有一些自己的特点,然而如果不是碰撞反应池技术的出现,几乎各家的ICP-MS都没有什么大区别了。从PE公司在6100上推出DRC以来,各家公司都
2012年06月02日发布人:chemistry
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求助啊,现在需要对镀层进行表面形貌、截面形貌及成分分析,对试样有啥要求吗,不知道镀层表面还需要什么处理,需要抛光吗,自己用砂纸磨,保持堵车呢过表面干净,平整,可不可以直接拿去检测啊?急啊。,进行表面形貌观察就不需要什么处理了;进行截面形貌
2016年04月29日发布人:xiaoxiaoai