进口X射线能谱仪EDS 分析测试百科网

X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)

[size=3]　　一、概念：[/size] [size=3]　　1.X光电子能谱法是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段，利用XPS作为分析

2013年12月21日发布人：santa
【求助】扫描电镜能谱与X射线光电子能谱的区别

有谁知道扫描电镜能谱与X射线光电子能谱的区别，它们是测得表面还是整体的元素情况，可不可以通过它们判断出哪些元素发生了反应？谢谢！:),扫描电镜能谱能测出含有那些元素及其含量和分布，不是全部的，但是比表面的要深一些。XPS可以看到元素所处的

2015年04月02日发布人：886爱
关于能谱仪及EDS数据的

现象（原为紫红色），被电子束破坏了？我用的是8kev 另有个问题，这个居里合金可以直接打能谱吧，我这样干了,不知你测量时的具体参数，提几点参考意见。 1 镀层厚度0.2微米。能谱的测量深度，即使采用较低加速电压也要有1--2微米

2009年12月08日发布人：heyang
X射线实时成像系统

(德国)X射线实时成像检测系统检测金属铸件橡胶轮胎内部分层裂纹 X射线实时成像系统:对于批量大、要求检测效率高的零件，是一种非常实用有效的检测手段，它具有动态观察、形态真实、检测效率高的特点，并可采用计算机图像处理装置对射线图像进行

2011年03月22日发布人：szwkk3
能谱仪和波谱仪的比较

[size=3]　　一,能谱仪能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS). 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,即锂漂移硅固态检测器,它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管. Si(Li)能谱仪的

2011年04月15日发布人：santa
X射线光电子能谱的原理及应用（XPS）

（一）X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示:　hn=Ek+Eb+Er 其中: hn：X光子的

2009年04月28日发布人：lifejourney
【求助】EDX,EDS，XPS,AES的异同

EDS:Energy Dispersive Spectrometer 能量色散谱仪EDX是荧光分析，EDS是能谱分析，后者不是x射线能谱仪，如果想准确定量，可以考虑化学分析，XPS,或者俄歇分析(AES)，XPS和AES对表面含量

2014年11月03日发布人：hcy517
分享：X射线荧光能谱仪基础

X-射线荧光能谱仪介绍自从1895年伦琴发现X-射线以来，产生的X-射线仪器多种多样。但是进入80年代，由于20世纪末，半导体材料和计算及技术的迅速发展，出现了Si(Li) 探测器技术和能量色散分析技术。最近十几年在国际上一种新

2010年07月29日发布人：santa
X射线衍射仪仪器部件汇总－－X射线发生器篇

最近做XRD课件，总结了些多晶x射线衍射的仪器各部件，发上来分享一下。首先，看下多晶X射线仪的总结构：如下图1 1. X射线源：X射线发生器+光路 2. 测角器：安装试样及样品室、确定衍射线位置、安装光学元件和探测器等 3.

2010年12月06日发布人：lifejourney
资料：X-射线荧光能谱仪介绍

[size=3][b]　X-射线荧光能谱仪介绍[/b][/size] [size=3]　　自从1895年伦琴发现X-射线以来，产生的X-射线仪器多种多样。但是进入80年代，由于20世纪末，半导体材料和计算及技术的迅速发展，出现了Si

2010年07月29日发布人：santa

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