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请问在对手性化合物(RS)原料药进行光学纯度控制中,用手性柱对其杂质对映异构体(SR)进行控制,而用普通的C18柱对非对应异构体(RR+SS)进行控制,但此RR与SS在C18上是重合的,这样可以吗?
前提是该四个异构体无法在手性柱的一个
2010年07月20日发布人:zhangluxing
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粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大,重复测量同一样品,表面情况稍有不同,荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整,越细密,强度就越大。
我用很多样品来压样,把表面尽量压成统一的形态,也试过用红外的压片机来压,可是效果不是
2015年05月31日发布人:shuishui
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粉末固体荧光的测量受样品表面情况的影响很大,重复测量同一样品,表面情况稍有不同,荧光强度就发生很大变化。而且并不是表面越平整,越细密,强度就越大。
我用很多样品来压样,把表面尽量压成统一的形态,也试过用红外的压片机来压,可是效果不是
2016年05月01日发布人:vbnm
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/(1+n)^2.
我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗?是反射角为多少的时候测量的?垂直入射的时候吗?看文献上从来都没有解释过。
另外还有一个问题,反射光谱是怎么测量的,测得的数据就是反射率吗?
补充一下测试的光学材料都是
2014年12月12日发布人:乐哥
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[size=2][color=DarkRed][font=黑体]标签:顶空进样器 样品瓶 进样阀 传输管 安捷伦
国产仪器与进口仪器差多远
美国的仪器甩我们国产的仪器有多远呢?看看安捷伦的7697A顶空进样器吧
2014年10月25日发布人:绿茶公子
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今天想测样品,等离子体点火后,等了一段时间,大概10-20分钟,是想让它稳定后,光学初始化,结果,马上就说失败,说no valid peak,没有找到有效的峰,问维修工程师说可能棱镜温度太高,问应用工程师说可能温度太低,今天气温低,开了热
2014年07月27日发布人:nsdm
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请问有谁知道用浊度仪怎么测量细菌浓度,我要用一定浓度的菌悬液做实验,可是总把握不好,用浊度仪测量的结果也不稳定,以致于实验总是失败,不知道是不是自己操作有问题......,可以测OD值,我们实验室都是这么做的。,俺们一般情况下也是测OD值
2016年03月18日发布人:8899
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X射线荧光光谱仪(XRF)在用压片制样测量时需要标准样品吗?
急求高人指点,肯定需要的,没有标准样品 你就没有工作曲线的啊 没有工作曲线你怎么测量的啊,那标准样品要如何选取呢,选取与待测样品成分矿物组成接近的一组含量呈梯度分布的定值
2015年04月19日发布人:熊猫
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原吸的光学系统能换吗?,换光学系统只能返回原厂更换,可能会得不偿失,还不如重新买台新的。,可以换,光电管的型号都可以改,但是的有人愿意帮你弄啊,,肯定是可以换的,但是一般都建议返厂进行更换,因为只有厂里面才有专业的调整光路的车间及工装
2015年11月23日发布人:adg
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【讨论】固体荧光的测量,重复测量是指同一个样品多次测量吗?多次测量会对一些元素有影响的这是正常现象.你可以换种制样方式比如熔融,是同一个样品多次测量。
我测的是稀土配合物的荧光,温度高的话就分解了,也可以用熔融的方法吗?,有没有
2015年05月08日发布人:艰苦奋斗