-
停止分析后,再重新分析,又不会出现,是怎么回事哦,可能是接触不良,是接触不良。,打开看看是不是石墨管烧坏了,这是热电的通病,原因有2方面:
1 石墨管电阻值不对,有可能已经爆裂;
2 传输电路板故障,请问这2个问题应该如何
2015年07月27日发布人:adg
-
大家好,对于薄膜样品,X射线荧光光谱仪的X射线能进入薄膜多厚呢,测试结果反映的是表面的信息呢,还是薄膜体层的信息呢。谢谢,荧光穿透的厚度与你样品的组分有直接关系,楼主,你这个问题有点怪。如果你的镀层足够厚,X射线穿不透,结果肯定是镀层的
2015年03月26日发布人:小猫
-
求助:在金属表面测镀层厚度,镀的是同一种物质比如镍;镀两层,这两层镍的物理属性不同,晶粒大小不一样,请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢!,xrf就可以 你这样单纯的双镀层测试起来还不是很难 你这两种元素混合起来镀一层测试起来就难
2014年09月27日发布人:ayanyang
-
小妹初来乍到,刚刚接触红外光谱仪。我是聚丙烯压片,厚度大约在130um左右,看到红外光谱中的几个比较重要的峰(973 998 1460)都被砍掉了,全部都显示不全。
我在想,是不是片的厚度太大了?但是怎么样才能把片做薄一些呢?
各位
2016年02月23日发布人:QQ爱
-
用SEM + EDS对抛光表面进行了mapping,但是只能得到元素分布图,及选定路径上元素浓度的变化,无法用origin绘制曲面分布信息。
此外,用纳米压痕仪进行了测试,由于衬底效应相邻两测点的间距要保持50~60nm,实际落入ITZ
2016年01月23日发布人:xgy412
-
不知道论坛中有没有用XRF测试过纸张?
我问过帕纳科的工程师,说需要叠个二三十层再测试
纸张是轻基体,如果X射线穿透纸打到后盖,纸张中的元素会被激发吗?
还是直接穿透,只会激发仪器后盖中的元素?,貌似目前了解只有美国加州
2014年11月14日发布人:夜蓝星
-
形貌,薄膜断面等。能谱主要采用多点分析,面扫描。,大体积金属块状样品。,透射样品吧?,主要是金属样品,做断口分析,以及镀层结构,有时也当高倍放大镜看金相组织,能谱辅助进行失效分析,有时也分析镀层的成分和结构。
偶尔也在低真空做些光纤断口
2010年06月10日发布人:goodgood
-
你们做出来的正极电极片的厚度一般大概是多少呢?要求严格吗?感觉电极片的厚度对电池性能影响大吗?
我由于实验条件简单,这方面没有很严格的控制,不知各位有没有这方面的要求,0.1mm 左右吧!:),其实越薄的话,做出来的性能越好,不过有些
2016年03月07日发布人:钻石
-
用SEM + EDS对抛光表面进行了mapping,但是只能得到元素分布图,及选定路径上元素浓度的变化,无法用origin绘制曲面分布信息。
此外,用纳米压痕仪进行了测试,由于衬底效应相邻两测点的间距要保持50~60nm,实际落入ITZ
2016年01月18日发布人:dadaai
-
从来没有接触过从透射电镜照片能看到片层厚度的~~~有知道的虫虫能帮忙看一下吗~~非常感谢!!!,不太明白,这个intensity要是就是个图片分析结果,也就是对一根线上每个点的深浅程度画的图还能理解,只是为了测厚度准而已,要是透射自己就能
2015年09月09日发布人:灵魂