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高纯硅纯度标准物质
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高纯硅纯度标准物质 GBW02143
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高纯硅纯度标准物质 中国计量院
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DM0206-200mg 高纯硅纯度标准物质 CAS号96400-45-2
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高纯硅
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纯硅标准样品
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TEM用纯硅薄膜窗
TEM用纯Si薄膜窗 纯硅薄膜窗特点 纳米级厚度:薄膜厚度为5-15nm,比目前无定形碳薄膜窗口还薄,为高倍成像减少了背景干扰; 清洗:采用等离子清洗,无有机物残留,改善成像质量; 均匀性:减少
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BioPulite® Perfect C4
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