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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在涂料行业领域,用来检测电致变色器件,可完成表面粗糙度,界面层项目。符合多项行业标准0。 The UVISEL
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测有机半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测有机半导体等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA 可检测OLED封装器件
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测OLED封装器件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数: * 光谱范围
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZnO薄膜的检测。可以用在其他化工行业领域中的光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 介孔硅复合材料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成介孔硅复合材料的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数,各向异性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 应用于电子/半导体
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测OLED封装器件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 应用于电子/半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测PDP等离子体显示屏,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数: * 光谱范围
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 应用于电子/半导体
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3,符合行业标准0。适用厚度,光学常数,各向异性项目
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椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型 样本
点击查看下载椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型 样本相关资料,进一步了解产品。 UVISEL光谱型相调制椭圆偏振仪(SPME)是一款独一无二的仪器,它采用光弹性晶体来调制偏振光
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 应用于电子/半导体
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于膜厚度,光学性能,掺杂的影响,各向异性层项目,参考多项行业标准0。可以检测TFT-LCD显示屏等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数
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