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F10-RT 薄膜厚度测量仪
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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UT-1000AHerz-主动式减震平台实验台
概述UT-1000A平台专为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供稳定的主动隔振性能(从0.5Hz开始)。UT-1000A平台通过消除破坏性低频振动噪声的干扰,帮助用户从显微镜中获取更多信息
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F60-t 薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以
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四探针方阻测试仪美商菲乐四探针电阻率测量仪
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列可进行接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以每秒快速1点的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用标准收益或定制制
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R50四探针电阻率测量仪
R50电阻率测量仪 Filmetrics R50系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
聚焦光束检测系统包括一个 FS-1 多波长椭偏仪,带光束聚焦光学器件和一个手动位移台。该系统 非常适合用于手动检测和在图案化半导体晶圆上 进行质量控制测量。 可进行科研测量,带小尺寸光斑和相机成像功能
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EST-58-450 主动式减震台
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术
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