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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪
产品概述EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪是一款对挥发性有机物快速分析检测的便携式设备。该设备采用独特的膜进样技术,完成直接进样质谱分析,实现对未知化合物的秒级响应。整机
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ISP 可变形镜 (适用于兆焦级强激光)
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MCX/Silica 强阳离子交换/未键合硅胶固相萃取柱 CASMCS655
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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砂强机变形韧性配件
420-A 砂强机变形韧性配件 420-A 变形韧性配件可以测量砂样在长度上发生变化或变形的量,直至样品断裂。变形指示器的最大读数由第二个指示器指针显示。变形测试几乎不需要额外的努力,因为它与压缩
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砂强机变形韧性配件
420-C 砂强机变形韧性配件与405系列万能砂强机配套使用。测量所有三个压缩范围和两个横向范围内的变形;包括选择性停止功能,因此可以测量在任何预选载荷下的变形量,而不是试样失效。包括塞尺组
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TRACE 6000 膜进样光电离飞行时间质谱仪
产品概述TRACE 6000是一款紧凑型挥发性有机物(VOCs)实时分析质谱仪,该仪器采用膜进样技术、光电离技术和飞行时间质谱技术,具有定性定量能力强、灵敏度高、分析速度快、线性范围广、操作简单
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