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德国BMT WLI白光干涉仪
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场的
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高分辨率3d白光干涉仪
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UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚检测
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定DNA传感器垫片,符合行业标准0。适用膜厚检测项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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日立白光干涉显微镜VS1800
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白光干涉非接触式粗糙度测量仪
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OESSPECTROMAXx德国直读光谱仪
到过程控制和出厂成品的质量检查。不论是金属生产还是制造工厂的任何一步,都需要真正先进的元素分析。在过去的十多年中,光谱仪具备了所有检测要求。SPECTROMAXx(LMX10)火花光学发射光谱(OES
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
一、用途 (1)二、三维表面形貌测量 (2)膜厚和台阶测量 (3)刻线和沟槽尺寸测量 (4)任意曲面形貌测量 (5)球面和非球面轮廓非接触测量 (6)MEMS器件三维尺寸测量
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WIVS-II型 垂直扫描白光干涉表面轮廓测量仪
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