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日本EHC 有机薄膜弯曲测试和评估系统ELS-100FM
(cd/m2) - 光谱电源:1 x AC100V / 15A。尺寸/重量:600Wx600Dx2000H(毫米)/约80公斤有机薄膜弯曲测试和评估系统ELS-100FM
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 薄膜的磨损率测量
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DelsaNano CZeta电位薄膜分布分析仪 样本
点击查看下载DelsaNano CZeta电位薄膜分布分析仪 样本相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid
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系列_光学薄膜厚度测量仪涂镀层及薄膜测厚仪ATGX310
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统,是基于薄膜的反射光干涉原理,用于测量和分析薄膜厚度。适用于半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能
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折光仪鲁道夫折光仪 可检测固体薄膜
鲁道夫折光仪J47参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/332。完成固体薄膜的检测。可以用在可再生生物油行业领域中的折光项目。 固体薄膜测试
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贝克曼库尔特Zeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 适用于固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C参考多项行业标准。完成材料表面的检测。可以用在纳米材料行业领域中的固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面
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折光仪鲁道夫J357 可检测固体薄膜
鲁道夫折光仪J357用于测定固体薄膜,符合行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/332。适用折光项目。 固体薄膜测试应用-美国鲁道夫Rudolph
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ICP-AES全谱直读型ICP-AES 岛津 适用于多层薄膜
岛津ICP-AESICPE-9800适用于多层薄膜项目,参考多项行业标准。可以检测多层薄膜等样品。可应用于汽油/柴油/重油行业领域。 图注:待机时,仪器可自动转入Eco模式。高频功率降低
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X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+岛津 可检测石墨烯薄膜
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域,用来检测石墨烯薄膜 ,可完成厚度 项目。符合多项行业标准/ VBA。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物
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ICPE-9800ICP-AES全谱直读型ICP-AES 可检测多层薄膜
岛津ICP-AESICPE-9800用于测定多层薄膜,符合行业标准。适用多层薄膜项目。 图注:待机时,仪器可自动转入Eco模式。高频功率降低到0.5kW, 等离子体气流量降低 到5 L/min
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