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Zeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪贝克曼库尔特 可检测悬浮颗粒
★ 当前惟一的应用电泳光散射原理测量固体平面或薄膜平面Zeta电位的仪器,可通过固液介面Zeta电位分析,表征吸附力或附着力。(此项为可选项)★ 大角度测量(背散射技术)高浓度样品的纳米粒径★ 同时
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折光仪折光仪J257 全自动折光仪在固体薄膜的测试应用
鲁道夫折光仪J257可用于测定固体薄膜,适用于折光项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/332。可应用于塑料行业领域。 固体薄膜
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折光仪折光仪J47 全自动折光仪在固体薄膜的测试应用
鲁道夫折光仪J47可以用在纤维行业领域,用来检测固体薄膜,可完成折光项目。符合多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/332。 固体薄膜测试应用
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安东帕NST³纳米划痕仪 分析有机涂层
技术指标施加的载荷分辨率0.01 μN最大载荷1000 mN本底噪音0.1 [rms] [μN]*摩擦力分辨率0.3 μN最大摩擦力1000 mN位移分辨率0.3 nm最大位移600 μm本底噪音
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原位探针离子化质谱仪岛津有机元素
岛津DPiMS-2020是一种全新的质谱分析仪器,采用岛津LCMS-2020单四级质谱分析仪与探针电喷雾离子源相结合。该仪器利用精密的探针取样设计,可以在无需样品制备的情况下快速便捷地进行样品分析。它
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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台可用于光伏行业:薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池
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TSQ 8000 Evo气质赛默飞 适用于有机磷、有机氯及拟除虫菊酯类农药残留
赛默飞三重四极杆 GC-MS/MSTSQ 8000 Evo参考多项行业标准GBNY/T 761-2008《蔬菜和水果中有机磷、有机氯、拟除虫菊酯和氨基甲酸酯类农药多残留的测定》。完成黄瓜的检测
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TOC-VWS/TOC-VWPTOC测定仪总有机碳 总有机碳分析仪 TOC-V基本操作
TOC-VWS/TOC-VWPTOC测定仪总有机碳 总有机碳分析仪 TOC-V基本操作针对不同使用环境,有着不同的操作与维护流程,点击查看操作维修手册。 测定原理水中存在总有机碳和无机碳两种碳。总有机
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ON-LINE TOC-VCSH岛津总有机碳分析仪 总有机碳分析仪 TOC-V基本操作
ON-LINE TOC-VCSH岛津总有机碳分析仪 总有机碳分析仪 TOC-V基本操作针对不同使用环境,有着不同的操作与维护流程,点击查看操作维修手册。 测定原理水中存在总有机碳和无机碳两种碳。总有机
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提
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