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硅漂移探测器牛津仪器EDS 纳米材料生长和表征
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可以用在高分子材料行业领域,用来检测Nano Material,可完成Nano Material项目。符合多项行业标准Oxford Instruments
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 适用于Power Semiconductors
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析
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EDS硅漂移探测器X-Max TEM 可检测Particles
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Pollutant Particles项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pollutant Particles等样品
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器 可检测Metals
牛津仪器EDSX-MaxN用于测定Metals,符合行业标准Oxford Instruments。适用Metals 3D Printing项目。 Additive Layer
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牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器
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硅漂移探测器X-MaxN牛津仪器 可检测岩石
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN参考多项行业标准Oxford Instruments。完成岩石的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Characterising Complex Rock
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器 灵敏度
有着很大影响。使用Ultim Max的大面积晶体(100 mm2和170 mm2),可大幅提高极端分析条件下的计数率。Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子
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X-MaxNEDS硅漂移探测器 应用于纳米材料
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定Power Semiconductors,适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米
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牛津仪器硅漂移探测器EDS 应用于纳米材料
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OTT HydroMet 自排水称重雨量计 WAD 自校准、无漂移
OTT HydroMet 自排水称重雨量计 WAD 自校准、无漂移应用行业新仪器非常方便使用,适用于拥有无人值守的自动网络区域(比如市区),实现降雨量监测网络的自动化,还可用于以下方面:替代人工监测
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