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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量半导体膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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DelsaNano CZeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C参考多项行业标准。完成固体及薄膜的检测。可以用在纺织/印染行业领域中的Zeta电位分析项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量太阳能膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量汽车车灯膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量触摸屏膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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全自动薄膜孔径及渗透率测量仪可用于微孔膜、纺织
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 薄膜的磨损率测量
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DelsaNano CZeta电位薄膜分布分析仪 样本
点击查看下载DelsaNano CZeta电位薄膜分布分析仪 样本相关资料,进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid
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长杆辐射测量仪
FH 40TG长杆辐射测量仪,可选配不同的探测器,满足不同领域的需求,可以更好的保护操作者的安全。? - 可使用多种不同的探测器 ? - 同时监测操作者剂量和剂量率 ? - 模块化设计,可快速更换
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薄膜厚度仪介绍及价格
薄膜厚度仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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