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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。微聚焦X射线
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电镀用X射线荧光分析
特点根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm钨X射线管或钨微聚焦管(XULM
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大行程全自动X射线荧光镀层测试仪XAD/XTD
产品简介: 全新上照式设计,保留原有四焦技术同时,搭载全自动大行程移动平台和影像识别功能,既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及全
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镀层厚度测试仪XAU
合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm自主研发EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有
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菲希尔XAN500型便携式X射线荧光镀层测厚仪
减少了校准仪器所需的时间和精力。 Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析
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上照式X射线镀层测厚仪XD-1000
工厂。 XD-1000上照式X射线荧光光谱测厚仪,对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。 产品简介
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毛细管聚焦型X射线镀层测厚仪
普通X射线镀层测厚仪结构:多导毛细管X射线镀层测厚仪光路结构: 将全反射技术应用到X射线荧光分析中所开发的多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性
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Compact eco德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪
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天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪
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