图：   图1 WDXRF结构示意图 图2 EDXRF结构示意图自上世纪40年代XRF光谱仪诞生，作为元素光谱分析技术的重要分支，在冶金、地质、矿物、环境等领域有着广泛应用。但常规XRF光谱仪并不适于痕量元素的检测，而且复杂多变的基体效应导致系统误差较大。目前，多采用数学校正、基体分离等手段以克服

示意如下图：　　图1 WDXRF结构示意图　　图2 EDXRF结构示意图　　自上世纪40年代XRF光谱仪诞生，作为元素光谱分析技术的重要分支，在冶金、地质、矿物、环境等领域有着广泛应用。但常规XRF光谱仪并不适于痕量元素的检测，而且复杂多变的基体效应导致系统误差较大。目前，多采用数学校正、基体分离等

，基于此，x-射线技术被广泛使用在现场实时分析多种材料中的主要和微量（ppm级）元素。图2.光谱图和x-光波波长/频率示意什么是XRF技术？XRF就是x-射线荧光(x-RayFluorescence) 技术的简称，是一种用于确定材料化学成分的无损分析技术。当样品在原级x-射线源的激发作用下，次级x-

兼得。02马尔文帕纳科XRF三元催化剂分析案例下图中展示了马尔文帕纳科XRF光谱仪对回收三元催化剂进行表征的工作曲线例图，有证物质比对结果列入下表。03马尔文帕纳科XRF质子交换膜分析应用相对于回收催化剂的复杂基体，质子交换膜中的Pt担载量分析具有基体简单易校准的优势。根据Pt的信号能量特点，同样可以

①操作简便，分析速度较快。不少光谱分析无须对样品进行处理可直接分析，如XRF可直接分析固体、液体样品。原子发射光谱可同时对多种元素分析，省去复杂的分离操作等。②不需纯标准样品即可实现定性分析。原子发射光谱、红外光谱等只需利用已知谱图，即可进行定性分析。这是光谱分析一个十分突出的优点。③选择性好，可

3世纪。因此研究界通常认为更早时期的铁制品主要是由铁陨石制成。然而，由于缺乏详细的科学分析论证，目前对于该观点仍然存在一些争议。近日，埃及博物馆和米兰理工大学的研究者们，通过使用布鲁克便携式XRF光谱仪ELIO对图坦卡蒙国王墓中出土的铁匕首化学组成进行研究， 证实了图坦卡蒙铁匕首的可能是由外太空的铁

1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量

光谱图的看法如下：光谱图，横坐标多为波长（频率）纵坐标为强度，或者相对强度等光谱图有3个最为重要的信息。第一：峰值，在哪个波长（频率），强度达到了峰值。第二：半高宽，即达到峰值一半高度（有时也取1/e），所对应的两个波长中间的宽度，也就是“谱线宽度”第三：变化趋势，研究光谱强度随频率的变化，可以

1.将所有的膜具擦拭干净，在红外灯下烘烤；2.在红外灯下研钵中加入KBr进行研磨，至少十分钟；3.将KBr装入膜具，在压片机上压片，压力上升至35Mpa左右，稳定5分钟；4.打开傅里叶红外光谱仪，将压好的薄片装机，设置背景的各项参数之后，进行测试，得到背景的扫描谱图。5. 取一定量的样品（样品

下面是一些基本的方法和技巧来解读紫外光谱图：观察吸收峰的位置和强度：在紫外光谱图上，吸收峰的位置和强度通常与化学键的构型和官能团有关。因此，观察吸收峰的位置和强度可以推断分子中化学键和官能团的类型和位置。分析波长范围：紫外光谱图通常在200-400纳米波长范围内进行测量。观察吸收峰的位置和强度