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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有
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Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本
点击查看下载(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料,进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测关键细节
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Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料,进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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牛津仪器TKD样品座 置于SEM中
TKD样品座是专为超薄样品设计,易于固定且符合光学原理。置于SEM中,即可使用AZtec EBSD系统轻松方便的实现高分辨的EBSD分析。专为TKD分析的样品座,TKD即透射菊池花样演示分析
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Verios XHR SEM透射电镜(原FEI) 应用于其他化工
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜(原FEI) 应用于其他化工相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准
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