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赛默飞PROSIS™ 红外在线分析厚度传感器 适用于厚度,克重,湿度
赛默飞碳硫PROSIS™可以用在橡胶行业领域,用来检测涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池,可完成厚度,克重,湿度项目。符合多项行业标准。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统,用于在线测量
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UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于厚度项目,参考多项行业标准0。可以检测并五苯有机薄膜晶体管等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介
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赛默飞 厚度直接测量仪
Thermo Scientific ™ ShadowMaster 测厚仪对各种材料提供准确、可靠的厚度测量,极大地改善生产过程的控制、改进质量和提高生产率。此测厚仪具有安装快、使用成本低、投资
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UVISEL 堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 表征OLED封装器件的厚度和光学常数-研究OLED的老化过程
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测OLED封装器件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学
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堀场HORIBAUVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定GeSb膜,适用于厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 适用于厚度,光色散
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在电子/半导体行业领域,用来检测AlxGa1-xNGaN,可完成厚度,光色散项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学
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UVISEL 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测硫系玻璃等样品。可应用于其他化工行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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安东帕CAT²c/i涂层测厚仪 涂层厚度测量
膜厚仪只需 2 到 5 分钟即可测量出涂层的厚度。在这个专业版本中,电机固定在一个液压臂上,从而对样品的尺寸不造成任何限制。该测试仪是快速精确地测量工业中常见的涂层部件的涂层厚度的理想仪器。主要特点
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Agilent ICP-OES5110安捷伦 Agilent同步双向观测 ICP-OES
点击查看下载Agilent ICP-OES5110安捷伦 Agilent同步双向观测 ICP-OES相关资料,进一步了解产品。 Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV
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赛默飞 红外在线分析厚度传感器
使用一台定标简便的红外厚度传感器,塑料膜、挤出涂层、吹塑薄膜和无纺布的生产商便可以获得准确的厚度和湿度数据,提高产品质量,以及精确控制原料的使用。不论您需要涂层厚度测量、涂料厚度测量还是膜厚度测量
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