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厚度计
厚度计可连接电脑技术特点:• 数字计改良用于橡胶,塑料或纺织品压力的测量,包括10mm量块,起重索,测量底座和砝码用于厚度测量。• 结构稳定,可较好地调节高度。• 接口套件, EV 01.04
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厚度仪
仪器简介:美国TMI厚度仪用于测试薄膜、纸张和铝箔等的厚度。符合标准:ISO534,EN20534,TAPPI T-441,GB/T451.3技术参数:技术参数: 1. LCD
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评级观测版
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手持观测热像仪
型号型号DS-2TS03-25UM/W名称手持观测热像仪热成像传感器类型非制冷型探测器最大图像尺寸384 × 288响应波段8~14μm噪声等效温差(NETD)
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厚度规7360
/测砧547-3210-10mm0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴/测砧547-3130-10mm0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-3150-10mm0.01mm
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荧光观测器
荧光观测器用于检测、筛选转绿色荧光蛋白(GFP)和红色荧光蛋白(DsRed)基因的植物、动物及微生物,如染荧光的各种动植物 水稻、玉米、斑马鱼、小鼠、细菌、真菌等进行荧光观测,方便可靠。荧光
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物候观测系统
可自动计算和在线显示多种植被指数,并通过软件监测设备的运行状态。案例一:作物发育及长势自动观测识别系统该系统是对农作物生态参数进行自动观测的系统,观测要素包括作物发育期、作物盖度和密度等,可适用于玉米
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粉末涂层厚度仪
技术参数LD8100电压9, 90 VLD8105电压9, 24, 67.5, 90 V测量范围最大500um涂层厚度电压精度+/- 5%敏感性所有电压100kΩ反馈视觉、听觉*、触觉(*选配
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薄膜厚度测量系统
产地属性欧洲价格范围10万-30万这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器。 这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展
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DLI 100光照观测仪
按键一个开始按键,用于控制仪器工作显示间隔4秒测量波段400~700nm显示单位μmol/m2/s1或Foot~Candles(1FC=10.76LUX)观测参数日累积光量供电1节3V
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