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多晶硅和单晶硅标准太阳能电池
规格参数尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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硅太阳电池光谱性能测试系统
测试对象单晶硅、多晶硅太阳电池;最大尺寸 156mm x 156mm测量项目硅电池的绝对光谱响应,外量子效率,光谱透过率,短路电流密度主要指标光谱范围:360-1100nm扫描间隔:≥1nm
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太阳能硅电池光谱响应系统(QE/IPCE)
指标参数适用电池单晶硅、多晶硅、半导体材料控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性
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硅材料氧碳含量专用测定仪
、食品、材料科学、公安、国防等各个领域,是实验室研究及常规应用分析的得力工具,是科研、生产不可缺少的分析测试仪器。 硅材料氧碳含量专用测定仪(FTIR)技术参数 光谱范围:4000
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7-SCSpecII 硅太阳电池光谱性能测试系统
测试对象单晶硅、多晶硅太阳电池;最大尺寸 156mm x 156mm测量项目绝对光谱响应内/外量子效率短路电流密度光谱反射率光谱透过率主要指标 光谱范围:360-1100nm扫描间隔
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CEL-RCCO多晶硅标准太阳能电池
尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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德国Phystech深能级瞬态谱仪
产地属性欧洲价格范围2万-5万在纯指数发射过程模型的基础上,用各种数学模型分析测量到的瞬态过程。 德国Phystech 深能级瞬态谱仪FT1230德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230
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薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统
薄膜太阳能电池材料光谱响应测量系统 ■ 光谱测量范围:200-1100nm ■ 测量重复性:≤3%(主要波长位置) ■ 光源:高稳定、高输出能量
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能谱科技硅材料碳氧含量专用测定仪
硅材料氧碳含量专用测定仪产品特点1、智能的人机交互设计,无论您是否接触过傅立叶红外软件,都能迅速熟练操作;2、配备智能湿度自动提醒装置,减轻了操作人员对仪器维护的工作量,电子湿度数字直观显示
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F-7600硅材料氧碳含量专用测定仪
光谱范围:7800~375 cm-1 分 辨 率:1 cm-1 信 噪 比:30000:1(4cm-1,1分钟扫描,P-P值) 检 测 器:高灵敏度DTGS
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