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薄膜厚度测量系统
产地属性欧洲价格范围10万-30万这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器。 这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展
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Map薄膜厚度测绘仪
薄膜厚度分布图(厚度以颜色标示): 厚度测绘软件: Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。 Map薄膜厚度测绘仪
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薄膜厚度测量系统TF200
/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸(可选微光斑附件。)2mm2mm2mm2mm是否能在线是是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选XY可选 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度
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F20 薄膜厚度测量仪
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薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm2mm是否能在线是是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选XY可选 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜
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F32 薄膜厚度测量仪
使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。 F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进
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F54 薄膜厚度测量仪
依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。 详细介绍自动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大
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F60-t 薄膜厚度测量仪
依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。 自动化薄膜厚度绘图系统依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台
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F10-HC 薄膜厚度测量仪
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度。 F10-HC薄膜厚度测量仪极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发
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F10-RT 薄膜厚度测量仪
以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和
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