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使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
范围内不透明)上的铌酸锂 LiNbO3 层状结构。计算出了两个样品的折射率,准确度为 ±0.01。根据所测定的折射率,计算了两个样品的薄膜厚度。
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计 应用
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GB/T 16958-1997 包装用双向拉伸聚酯薄膜
来源:john.kingl 资料
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使用 VASRA 附件测量样品在不同角度和波长下的反射率、表征镜面以及测定薄膜的折光率和厚度
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计 应用
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OLED中ITO薄膜的透过率、厚度应用方案
透过率高于80%。另一方面,薄膜的厚度势必会对光在其中的透过率产生影响,当厚度大于70nm时,透过率将减小。因而在OLED的生产和研发过程中,ITO导电膜的透过率以及厚度是需要被准确检测和表征的
来源:海洋光学 资料
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
来源:uytdo 资料
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岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
来源:岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司 相关产品:岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ 应用
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QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
来源:muour 资料
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表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪 应用
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GB/T 15267-94 食品包装用聚氯乙烯硬片、膜
来源:john.kingl 资料
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微波消解薄膜
来源:上海新仪微波化学科技有限公司 相关产品:MASTER系列高通量密闭微波消解/萃取/合成工作站 应用
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