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化学分析检验都是针对具体的样品,不是针对一个比如的样品。连样品的准确描述都没有,别说分析方法法,能有人回复你的帖子就不错。,二次离子质谱仪 SIMS,您可以考虑下。这个氢和氧是可以测试的。但是看您的样品,这两个元素又是主成本,纠结~~,您的元素组成都测定出来了
2013年05月10日发布人:差不多先生
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,据此来判断分析材料的成分。
二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般
2010年07月06日发布人:xps
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[size=3] 二次离子质谱[/size]
[size=3] (Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)[/size]
[size=3] 一、简介[/size]
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2012年05月18日发布人:amelican_beauty
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表征出来。,最直接的办法就是磨,太正常了,搞金相的天天干这个,或者XPS有离子枪,可以一层层轰掉,可以知道有多厚,但是没法成像,动态SIMS也有可能能给出深度信息,不过需要试试,我不太确定效果,金相的话,确实是靠磨,但是这个颗粒很小啊,只有
2015年03月21日发布人:zouyou
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很有用,我以前觉得质谱成像可以代替免疫组织化学或者原位杂交试验,关于这个,大家可以看看mass spectrometry reviews的一篇文献,在附件中给出,作者主要概括了SIMS及MALDI在质谱成像领域的应用,不过最近又兴起的DESI也可以应用于质谱成像,也有相关的文献报道,大家可以关注一下。,昨
2016年04月17日发布人:钻石
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联系方式,上海的复旦大学还是交通大学来着?那里有TOF-SIMS,可以做这个东西,我记得是曹永明老师,谢谢
不过有个疑问,二次质谱对定量好像不是很准确。
薄膜中可能是ppm级的含氧量,不知道误差会在多少,主要还是基体匹配的问题,如果没有相应基体标样的话,SIMS甚至是
2014年09月28日发布人:jkh123
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表征出来,最直接的办法就是磨,太正常了,搞金相的天天干这个,或者XPS有离子枪,可以一层层轰掉,可以知道有多厚,但是没法成像,动态SIMS也有可能能给出深度信息,不过需要试试,我不太确定效果,金相的话,确实是靠磨,但是这个颗粒很小啊,只有
2015年10月10日发布人:886爱
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[/url]分为两种,一种动态二次离子质谱(DSIMS),如CAMECA公司生产的IMS-xf系列,一种静态二次离子质谱(S-SIMS),如ULVAC-PHI公司生产的nano-TOF系列。动态和静态区分的标准时入射离子的计量,当>10
2010年10月16日发布人:gitde
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介绍了关于SIMS飞行时间的概念。
tof-sims据说在中国只有几台,矿业大学,复旦大学,但是都是很老的
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[size=5][color=#ff0000][b
2010年10月16日发布人:amelican_beauty
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RT.RT.
本人现有一批掺杂硅晶圆样片需要测量杂质浓度沿纵向深度的分布曲线,但不知道成都地区及附近哪里可以做SIMS测试。
望知情者告知,鄙人不胜感谢!
联系方式:[email]coniug2005@sina.com[/email],这个是离子质谱,还没见识过.
2011年03月17日发布人:迟来