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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查
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45° AOI 超快啁啾反射镜
45° AOI 超快啁啾反射镜具有高反射率和负群延迟色散 (GDD)非常适用于在 45° AOI 时进行散射补偿和光束压缩专为飞秒激光(包括 Ti:sapphire)而设计45° AOI 超快啁啾
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45° AOI 高性能薄膜激光偏振片
45° AOI 高性能薄膜激光偏振片Ø已针对 45° AOI 的 S 偏振和 P 偏振分离进行优化Ø在 DWL 具有 1000:1 的高消光比Ø专为 800nm 或 1030nm 激光而设
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out
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AOI检测仪器用灯泡
AOI检测仪器用灯泡 OSRAM EKE 93638 21V150W OSRAM EJM 21V150W OSRAM EJV 21V150W OSRAM ELC 64653
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Camtek晶圆光学检测AOI
产品描述AOI,Automatic Optic Inspection的缩写,即自动光学检测,利用普通光线和激光配合电脑程序,对半导体制造中不同阶段进行平面性外观视觉检验,以代替人工目检的光学设备。
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 三维集成电路
Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。 完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖产业需求解决产业。
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用
碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
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