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AOI检测设备
正业科技生产的AOI检测设备可检测LCM产品的点线缺陷、团缺陷、MURA缺陷等数十种缺陷,并具有学习功能,可通过不断采集缺陷种类,从而实现检测功能的优化和提升,具有智能过滤产品表面干扰功能(如灰尘
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IC半导体LED封装检测WB&DB焊线AOI检测设备
IC半导体LED封装检测解决方案WB&DB焊线AOI检测设备型号:F241/F251 主要特征 :1. 可选的5面和6面检查2. 2.5D深度技术3. 模块化且灵活4. 64位操作系统5.
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BroadBeamTM超宽带高反射镜
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Edmund EO相机
用户调整增益、曝光、白平衡、帧速率、AOI(仅可调整图像高度)、触发延迟,以及数字输出(闪光)延迟和持续时间。除此之外,该软件还能够以JPEG及Bitmap格式捕捉图像,并以AVI格式捕捉视频。也包含
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微偏振片阵列
特征优势纳米线技术均匀性好>20o半角波长和AOI无关可覆盖UV和IR波段无机材料高重复性高热阻二、三或四种状态可根据要求订制像素阵列高分辨率低串扰配准适合单相机系统关键
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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
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AVENIO Millisect System 全自动组织切割仪
,AVENIO Millisect System采用机械式的切割技术帮助您回收目标区域(AOI),避免异质性细胞的存在,助您轻松获得每一个样本的重要信息。步骤1:数字化定义目标区域在连续的组织切片
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500万像素温控显微镜相机 MITO2-5MC
输出 → 0~31白平衡-40dB~12dBROIROI(AOI),多重ROI伽马校正伽马校正表=0.1~4.0 技术参数 (续)外部尺寸28 (W) x 28 (H) x
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Zeta-300 光学轮廓仪
亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据· ZSI:剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像· ZFT:使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率· AOI:自动光学
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光栅和衍射光学元件
尺寸(s): 35 mm x 45 mmx6S表面质量: 60-40 scratch-dig衍射波阵面: < λ/5 rms @ 632.8 nm中心波长: 840 nm入射角 (AOI
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