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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature
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Sciex解析质谱谱图数据的 PeakView™软件
处理精确的质谱数据、结构解析和批量分析的PeakView™软件 显示谱峰之间的质量差异生成扣除背景的谱图,合并相关谱图或创建轮廓图
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inLux™ SEM- 拉曼联用接口
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图象应用 Leica LAS Image Overlay
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SEM QUANTAX EDS
- 最佳能量分辨率提供最高质量的谱图,非常适合用于精确分析获得更棒的可靠性 - 世界上最全面的原子数据库确保最可靠的低能量峰值识别获得更高的精度 - 最先进的定量算法、基于标样的定量方法和独特的有标
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Thermo Scientific Quasor 电子背散射衍射
扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集成扩展,QUASOR 系统包括一套完整的采集和
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图象分析软件 Leica LAS Image Analysis
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