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Quanta SEM
Quanta 系列扫描电子显微镜属于多功能、高性能仪器,并具有高真空、低真空和 ESEM 三种模式,能够处理的样本类型之多堪称 SEM 系统之zei。所有 Quanta SEM 系统均可
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SEM纳米探针台
SEM纳米探针台产品实现了三维空间上的准确定位, 它具有分辨率高,尺寸紧凑,行程大,操作简单,能在真空下使用等优点,可应于SEM真空腔体内完成各种纳米精度运动操作。SEM纳米探针台产品使用压电陶瓷
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扫描电镜(SEM)
服务详情扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,20-200000倍之间连续
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扫描电镜分析-SEM
服务详情扫描电镜是一种多功能的仪器,具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中。它可以观察纳米粒子的形貌
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SEM&TEM 样品磨制系统
; 5. 磨盘和制备表面;精密玻璃盘、金刚石磨料薄膜; 6. 附件包括;SEM和TEM卡具,样品磨制后无需喷金,可直接进行TEM实验; 7. 其它性能,请参看该系统详细资料。适用于大多数的
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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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inLux™ SEM- 拉曼联用接口
通用型原位SEM-拉曼分析解决方案创新型inLux™ SEM-拉曼联用接口,可在您的扫描电子显微镜 (SEM) 样品室中集成高性能的拉曼分析能力。在执行SEM成像的同时,您还可以采集拉曼光谱并
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置Amptek推出全新SDD
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PHI 710俄歇电子能谱仪
PHI710主要特点:l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中,包括谱图,深度剖析及元素分布像,需要先在SEM图像上定义样品分析区域,必然要求束
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日立电镜样品清洗仪Zone SEM/TEM
Zone SEM/TEM是为扫描电镜样品处理设计,快速处理清除引起样品表面污染的碳氢化合物且不损伤样品,很大程度上提高电镜的观测效果,还原了材料的真实性。 Zone SEM
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