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EQS二次离子质谱探针
EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。
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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
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MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪
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CAMECA二次离子质谱仪IMS Wf和SC Ultra
可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量(150 eV到13 keV),不影响质量分辨率和一次离子束密度,可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
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安东帕mPDS 5 带有图形彩色显示和触摸屏的 二次表
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IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析,并行探测所有元素和化合物,具有极高的传输率(可达到100
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二次离子质谱分析
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二次供水水样保存冰箱
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