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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
描述:Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析,用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete
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EQS二次离子质谱探针
径: 9mm·最高加热: 250℃·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝 EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子
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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
极低冲击能量(EXLIE)离子色谱柱技术(< 150 eV)的发展,与带高分辨率平台的整片晶圆处理系统相结合,可在最小 20 μm 的压焊点上进行测量。推动实现 N5 及后继制程的高产量SiGe 和
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SurfaceSeer系列飞行时间二次离子质谱仪
飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在zei短的
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MAXIM二次离子/溅射中性粒子质谱仪
MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。特点·光栅控制,增强深度分析能力·所有
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SIMS二次离子质谱工作站
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CAMECA 二次离子质谱仪SIMS 7F-AUTO
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PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪
PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和
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CAMECA二次离子质谱仪IMS Wf和SC Ultra
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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