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BET比表面及孔结构测试
测定仪技术参数 测定仪测定范围: ≥0.01m2/g,无规定上限 测定仪样品数量: 4个(1个标准样,3个被测样) 测定仪测试效率: 平均每个样品5分钟 测定仪重复精度: ≤±2
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BET比表面及孔结构测试仪
仪器简介:技术参数:及孔径分布测试、总孔体积和平均孔径测定;测试过程完全自动化,智能化, 测量范围: ≥0.01M2/g 至无规定上限,孔尺寸 2~ 200nm ; 样品数量:2
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比表面积及孔结构分布仪
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布; 微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等) 真密度测试
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芯硅谷 D6576 384孔深孔板,方孔V型底,已灭菌
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的
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安东帕PoreMaster压汞仪 介孔的孔分布测定
品,GT系列可同时分析2个高压样品。 - Windows兼容软件不仅可以计算孔径大小还可计算其它孔结构参数。 - PoreMaster系列压汞仪也可用于测定空心玻璃微珠的压碎强度和防水材料的
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载 实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些
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芯硅谷 D6579 96孔深孔板(1.2ml/2.2ml),方孔,已灭菌
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芯硅谷 结构模型
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