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俄歇电子能谱仪
仪器简介:美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高,信息深度5纳米以内技术参数:俄歇电子能谱仪 • He以上所有元素纳米(约
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俄歇电子能谱 AES
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俄歇电子能谱专用
feedthrough ELS5000型:(俄歇电子能谱专用) ¨ Ideal for Static Auger Electron Spectroscopy AES ¨ Beam Energy
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+
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俄歇电子能谱仪(AES)
产品介绍: •产品名称:俄歇电子能谱仪(AES) •产品型号:AER-200 •品 牌:日美纳米表面分析仪器公司(U-P) •产 地:日本 产品参数
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PHI 710俄歇电子能谱仪
PHI710主要特点:l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中,包括谱图,深度剖析及元素分布像,需要先在SEM图像上定义样品分析区域,必然要求束斑直径
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俄歇电子能谱仪(在线表面分析)
3kV 共轴电子枪 CeBix 灯丝,提供大电流密度 USB接口 Windows 7 数据获取及分析软件 ASCII command structure LabVIEW 软件驱动
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Nexsa X射线光电子能谱仪
Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼
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X射线光电子能谱仪 AMICUS型
性能、紧凑设计的X射线光电子能谱仪。测定操作简便,可自动分析多种样品,适于质量管理分析与研究开发。备有用于快速深度方向分析的离子枪(选配)。
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AXIS NOVA X射线光电子能谱仪
绝缘体XPS分析 专利的二维阵列延迟线检测器(Delay-Line Detector),同时记录光电子的强度和发射位置,可实现在数秒钟之内获得高能量分辨XPS谱 全自动超大样品台,可
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