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,引起进一步电离 ,从而发射一个具有特征能量的俄歇电子。检测俄歇电子的能量和强度,可以获得有关表层化学成分的定性和定量信息。 新一代的俄歇电子能谱仪多采用场发射电子枪,其优点是空间分辨率高,束流密度大,缺点是价格贵,维护复杂 ,对真空要求高
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新一代的俄歇电子能谱仪多采用场发射电子枪,其优点是空间分辨率高,束流密度大,缺点是价格贵,维护复杂 ,对真空要求高。除 H 和 He 外,所有原子受激发后都可产生俄歇电子,通过俄歇电子能谱不但能测量样品表面的元素组分和化学态,而且分析元素
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)X射线激发俄歇电子能谱(XAES)分析在X射线电离后的激发态离子是不稳定的,可以通过多种途径产生退激发。其中一种最常见的退激发过程就是产生俄歇电子跃迁的过程,因此X射线激发俄歇谱是光电子谱的必然伴峰。对于有些元素,XPS的化学位移非常小
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俄歇电子谱不能探测He元素,因为He只有一层电子,不能产生俄歇效应;X射线光电子谱不能探测He元素,X射线光电子能谱仪是使样品内层电子产生光电子,但是He只有一层电子,不能探测。
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,有机物为 1.0 ~ 3.0nm 。对大部分元素 , 俄歇峰主要集中在 20 ~1200eV 范围内 , 只有少数元素才需要用高能端俄歇峰辅助进行定性分析。尹燕萍等用595型多探针俄歇电子能谱仪测得LiNbO3的 AES 谱图 , 从而得知 LiNbO3 试样表面很干净 , 几乎没有碳峰 , 而Li 、Nb 、O 元素的特征峰十分明显。
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电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量
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过程中释放的能量又使该原子核外的另一电子受激成为自由电子,该电子称为俄歇电子,其能量与激发源能量无关并带有特征性。用能量分析器(常用静电型)检测这些电子的能量分布,得到以其动能为横坐标,电子计数率(或一阶导数)为纵坐标的俄歇电子能谱图。它可
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, 称为俄歇化学位移。一般来说 , 俄歇电子涉及到三个原子轨道能级 , 其化学位移要比 XPS 的化学位移大得多。利用俄歇化学位移可以分析元素在该物质中的化学价态和存在形式。最初 , 由于俄歇电子能谱的分辨率低 , 化学位移的理论分析比较
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电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量
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能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用