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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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芯硅谷 P4804 Chemfluor® PTFE膜 聚四氟乙烯膜 PTFE活化膜
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芯硅谷封板膜
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Agilent PlateLoc 微孔板热封膜机
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安捷伦微孔板封膜穿孔机
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Processor Plus 全自动膜杂交系统
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Sepaths UP 全自动柱-膜通用固相萃取系统
可以同时自动完成 1-12 个相同或者不同样品的固相萃取操作,兼容固相萃取柱和膜片,满足大小体积样品处理,并可接受特殊领域规格订制,适用多种应用范围
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光学膜厚仪
仪器简介:适用样品:光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色
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GrandStand 中空纤维膜中试/生产过滤系统
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海洋光学光谱仪Ocean ST
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