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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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芯硅谷 P4804 Chemfluor® PTFE膜 聚四氟乙烯膜 PTFE活化膜
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芯硅谷封板膜
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膜康CheckPoint 3顶空气体分析仪CheckPoint 3 样本
点击查看下载膜康CheckPoint 3顶空气体分析仪CheckPoint 3 样本相关资料,进一步了解产品。 Dansensor CheckPoint 3:新的革命性传感器技术 用于气调包装质量
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顶空 MAP 气体分析仪MOCON AMETEK保鲜专用仪器 Dansensor 产品概述宣传册
点击查看下载 顶空 MAP 气体分析仪MOCON AMETEK保鲜专用仪器 Dansensor 产品概述宣传册相关资料,进一步了解产品。 使用 MultiCheck 包装完整性测试仪改进包装完整性
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MOCON AMETEKLippke 5000其他包装行业专用 Dansensor 包装测试系统
点击查看下载MOCON AMETEKLippke 5000其他包装行业专用 Dansensor 包装测试系统相关资料,进一步了解产品。 爆裂,泄漏,蠕变,气泡,综合测试测试包装尺寸1-90 000
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Agilent PlateLoc 微孔板热封膜机
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安捷伦微孔板封膜穿孔机
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量半导体膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 膜厚测量
仪器简介:球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对
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