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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 航空航天:镍高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析
基质信号对相邻分析物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于
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Nexsa X射线光电子能谱仪
· 高性能XPS性能· 深度剖析· 多技术联合· 双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展· 用于 ARXPS 测量的倾斜模块
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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪 航空航天:镍高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯
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EscaLab Xi+ X射线光电子能谱仪
能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点,确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合,用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨
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K-Alpha X射线光电子能谱仪
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 微电子:铜、氧化铝粉、溅射靶材
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 医疗/制药/食品:不锈钢、合金
物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于高级深度剖析可以
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS 可再生能源:硅块、硅片、太阳能电池
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赛默飞Element GD Plus™ GD-MS
基质信号对相邻分析物峰的贡献最小纳米分辨率的深度剖析深度剖析是涂层元素分析和跨层元素扩散评估的重要工具。深度分辨率从纳米到数百微米测定从亚ppm到100%的所有元素的浓度,无需校准灵活的阳极直径,用于
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